Атомно-силовая микроскопия сегнетоэлектрических кристаллов ТГС
- Автор:
Гайнутдинов, Радмир Вильевич
- Шифр специальности:
01.04.18
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Методы просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения для анализа наноструктуры биоматериалов | Суворова, Елена Игоревна | 2006 |
| Устойчивость системы кристалл-расплав в условиях различных модификаций метода Чохральского | Смирнов, Павел Владиславович | 2004 |
| Синтез, электрические, магнитные и спектральные свойства нового класса электропроводящих солей с переносом заряда на основе фталоцианинов и йода | Григорян, Леонид Суренович | 1985 |