Атомно-силовая микроскопия сегнетоэлектрических кристаллов ТГС
- Автор:
Гайнутдинов, Радмир Вильевич
- Шифр специальности:
01.04.18
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Структура пленок высшего силицида марганца по данным электронной микроскопии | Орехов, Андрей Сергеевич | 2017 |
| Атомно-силовая микроскопия сегнетоэлектрических микро- и нанодоменных структур | Лысова, Ольга Александровна | 2011 |
| Исследование влияния некоторых факторов роста на реальную структуру кристаллов KDP | Руднева, Елена Борисовна | 1999 |