Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников
- Автор:
Каданцев, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
148 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Генерационные процессы в тонкопленочных электролюминесцентных структурах на основе сульфида цинка, легированного марганцем | Афанасьев, Александр Михайлович | 2009 |
| Исследование влияния состояния границы раздела на электрические и фотоэлектрические свойства гетероперехода ZnTe-CdSe | Леондарь, Владимир Васильевич | 1984 |
| Вторичное свечение в пленках тетраэдрического углерода при лазерном возбуждении | Зарецкий, Сергей Николаевич | 1998 |