Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников
- Автор:
Каданцев, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
148 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников», автор — Каданцев, Алексей Васильевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Воронеж в 2006 году. Объем работы: 148 с. : ил.. Внутренний код товара: 01002935898. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование физических процессов при электретировании диэлектрических пленок в плазме газового разряда и разработка электретных датчиков | Лабутин, Александр Валериевич | 2000 |
| Структура и термостабильность пленок металлосодержащих кремний-углеродных нанокомпозитов | Пресняков, Михаил Юрьевич | 2014 |
| Напряженные квантово-размерные структуры и сверхрешетки в системе InGaAsP/InP : МОС-гидридная эпитаксия, свойства и применения в оптоэлектронных приборах | Лабутин, Олег Анатольевич | 1999 |