Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников
- Автор:
Каданцев, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
148 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электрофизические методы исследования дефектов с глубокими уровнями в многослойных структурах на основе полупроводников», автор — Каданцев, Алексей Васильевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Воронеж в 2006 году. Объем работы: 148 с. : ил.. Внутренний код товара: 01002935898. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности взаимодействия молекулярных пучков с поверхностью кремния в условиях выращивания слоев методом вакуумной химической эпитаксии | Смыслова, Татьяна Николаевна | 2013 |
| Субмиллиметровая ЛОВ-спектроскопия полупроводников и сверхпроводников | Гольцман, Григорий Наумович | 1984 |
| Особенности электронной структуры и динамические свойства полупроводникового соединения CuAlO2 | Шульгин, Дмитрий Анатольевич | 2013 |