Развитие рентгеновской дифрактометрии и рефлектометрии высокого разрешения для исследования многослойных гетероструктур
- Автор:
Ломов, Андрей Александрович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
369 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование электрических и оптических свойств дислокационных сеток в кремнии | Бондаренко, Антон Сергеевич | 2012 |
| Анализ самоорганизованных наноразмерных структур в имплантированном кремнии | Павлюченко, Максим Николаевич | 2002 |
| Рекомбинация и спиновая релаксация экситонов в полупроводниковых гетероструктурах первого рода с непрямой запрещенной зоной | Шамирзаев, Тимур Сезгирович | 2012 |