Поляризационная спектроскопия полупроводниковых микрорезонаторов Фабри-Перо на основе гидрогенизированного аморфного кремния

• Автор: Дукин, Александр Анатольевич
• Шифр специальности: 01.04.10
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2005
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 145 с. : ил.

Основные условные обозначения и сокращения

Глава 1. Оптические свойства планарных микрорезонаторов Фабри-Перо с

распределенными брэгговскими отражателями

1.1. Общая характеристика микрорезонаторов

1.2. Оптические свойства распределенных брэгговских отражателей

1.2.1. Нормальное падение света

1.2.2. Наклонное падение света

1.3. Оптические свойства микрорезонаторов

1.3.1. Нормальное падение света

1.3.2. Наклонное падение света

1.3.3. Скользящее падение света

1.4. Исследования оптических свойств микрорезонаторов и брэгговских
отражателей эллипсометрическими методами
1.5. Оптические свойства микрорезонаторов с квантовыми ямами
1.6. Оптические свойства системы состоящей из двух микрорезонаторов
связанных общим зеркалом
1.7. Влияние статистических неоднородностей интерфейсов на оптические
спектры планарных слоистых структур
1.8. Использование микрорезонаторов и брэгговских отражателей в
оптоэлектронных приборах
Постановка задачи
Глава 2. Методы экспериментального и теоретического изучения планарных
слоистых структур
2.1. Технология выращивания планарных слоистых структур на основе
гидрогенизированного аморфного кремния
2.2. Исследованные образцы микрорезонаторов и распределенных
брэгговских отражателей
2.3. Экспериментальная установка для измерения спектров пропускания,
отражения и фотолюминесценции

2.4. Методика измерения фазы амплитудного коэффициента отражения
2.5. Расчет спектров пропускания и отражения от планарных слоистых структур методом матриц переноса
Глава 3. Амплитудно-фазовые спектры отражения света от распределенных брэгговских отражателей и микрорезонаторов Фабри-Перо на основе гидрогенизированного аморфного кремния
3.1. Теоретическое исследование фазы отражения
3.1.1. Формирование спектра фазы коэффициента отражения света от брэгговской структуры
3.1.2. Резонансное изменение фазы коэффициента отражения от микрорезонатора вблизи частоты собственной моды
3.2. Экспериментальное изучение амплитудно-фазовых спектров отражения
3.2.1. Брэгговский отражатель
3.2.2. Микрорезонаторная структура Выводы
Глава 4. Поляризационное расщепление ТМ и ТЕ собственных мод в
планарных микрорезонаторах Фабри-Перо с высоким диэлектрическим контрастом
4.1. Поляризационное расщепление и геометрические параметры микрорезонатора
4.2. Определение параметров микрорезонатора с помощью известных частот ТМ и ТЕ собственных мод
4.3. Сопоставление экспериментальных и теоретических результатов
4.4. Зависимость поляризационного расщепления от диэлектрического контраста в брэгговских отражателях
4.5. Вырождение ТМ и ТЕ мод микрорезонатора при наклонном падении света
4.6. Влияние шероховатостей интерфейсов на уширение резонансных особенностей в спектрах отражения от микрорезонагора
4.7. Сопоставление результатов теоретических расчетов с экспериментальными данными Выводы

Глава 5. Энергетический спектр собственных мод планарных мнкрорезонаторных структур при скользящем падении света
5.1. Экспериментальное исследование спектра собственных мод при больших углах падения
5.2. Энергетический спектр собственных мод при скользящем падении света: эффект межмодового взаимодействия
5.3. Межмодовое взаимодействие и параметры микрорезонаторной структуры
5.4. Модель оптической анизотропии Выводы
Глава 6. Формирование спектров люминесценции высококонтрастных
микрорезонаторов Фабри-Перо
6.1. Спектр излучения света из микрорезонатора: основная модель
6.2. Усиление спонтанной эмиссии
6.3. Анализ формы спектров люминесценции и пропускания микрорезонаторной структуры Выводы
Заключение
Список литературы

4. Исследовать влияние шероховатостей интерфейсов активного слоя на резонансные особенности, обусловленные собственными модами, в спектрах пропускания и отражения света микрорезонатора.
5. Исследовать механизмы формирования спектров люминесценции, обусловленные возбуждением собственных мод микрорезонатора, и установить корреляции между наблюдаемыми резонансными особенностями в спектрах излучения и пропускания микрорезонаторных структур.