Исследование фононного спектра дииодида ртути методом комбинационного рассеяния света

• Автор: Гайслер, Владимир Анатольевич
• Шифр специальности: 01.04.10
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1985
• Место защиты: Новосибирск
• Количество страниц: 173 c. : ил

30/д-Ш
СССР
I. . ,
I ь
/АНД1 (-/ ■
/ гь;
; м
, / .'
11 П Л О ' '
■'Л'£л ••
ги„*
.•Тяч, отдела 1>/,К Ск’СР-

Глава I. Общие свойства колебательных состояний кристаллической решетки. Рассеяние света на колебательных состояниях
в кристаллах
§1.1. Элементы динамической теории кристаллических решеток II §1.2. Теоретико-групповой анализ фундаментальных колебаний
§1.3. Комбинационное рассеяние света на фононах
§1.4. Правила отбора для процессов комбинационного рассеяния света на фононах
Глава 2. Методические вопросы исследования
§2.1. Спектрометр дляуасследования комбинационного рассеяния света
§2.2. Автоматический режим работы спектрометра
§2.3. Импульсный лазер на красителе для исследования резонансного комбинационного рассеяния света
§2.4. Методика проведения экспериментов
Глава 3. Комбинационное рассеяние света первого порядка
§3.1. Общая характеристика спектров комбинационного рассеяния света в дииодиде ртути
§3.2. Поляризационные зависимости интенсивности комбинационного рассеяния света на низкочастотных фононах.
Расчет частоты фононов симметрии Ед И Від .... 76 §3.3. Исследование спектров комбинационного рассеяния света на высокочастотных фононах
§3.4. Расчет частоты фонона симметрии Ед . Определение констант межатомного взаимодействия и зарядов ионов ртути и иода

Глава 4. Проявление ангармониэма фононов дииодида ртути в
спектрах комбинационного рассеяния света
§4.1. Комбинационное рассеяние света второго порядка
§4.2. Влияние давления на фононный спектр дииодида ртути
§4.3. Температурные исследования комбинационного рассеяния
света в дииодиде ртути
§4.4. Рассеяние фононов на дефектах. Оценка совершенства кристаллов дииодида ртути методами спектроскопии неупругого рассеяния света
Глава 5. Резонансное комбинационное рассеяние света в дииодиде ртути
§5.1. Резонансное комбинационное рассеяние света на четных
фононах
§5.2. Исследование низкотемпературных спектров резонансного комбинационного рассеяния света в дииодиде ртути
5.2.1.Резонансное комбинационное рассеяние света на полносимметричном фононе
5.2.2.Резонансное комбинационное рассеяние света на нечетных фононах
Заключение
Список литературы

ров приводятся в [56]. Точность, которая достигалась на нашей установке при определении максимумов линий (частот фононов) составляла 0,2см~*. Эта величина определялась путем многократной одновременной записи реперной линии (лазерной линии или плазменной линии лазера) и линии КРС,и статистической обработки полученных данных. В процентном выражении погрешность определения частоты фонона не превышала 1%.
Определение погрешности при измерении ширины полос осуществлялось аналогичным образом. Погрешность не превышала 0,5см .
При исследовании ширины полос Г спектральная ширина щели 5 выбиралась из условия 5 4* Г/5 ; в этом случае аппаратную функцию спектрометра можно не учитывать. Однако при низкотемпературных исследованиях Г (Т) удовлетворить приведенному условию не удавалось, т.к. полуширины линий КРС были сопоставимы с минимальным значением 5 (предельным разрешением монохроматора ДЗЮ-24). В этом случае при определении истинного значения Г аппаратная функция монохроматора учитывалась с помощью номограмм, приведенных в [59]
При исследовании интенсивности линий КРС режимы работы спектрометра выбирались таким образом, чтобы погрешность в определении интенсивности не превышала 10%.
§ 2.2. Автоматический режим работы спектрометра.
Автоматизация спектроскопических устройств с применением ЭВМ в настоящее время является одной из основных тенденций в спектральном приборостроении [60] . Применение ЭВМ позволяет сокращать затраты времени на запись и обработку, спектров, тем самым повышается чувствительность спектрометра, упрощается работа оператора. Использование ЭВМ повышает точность и достоверность получаемых результатов.