Дифракционная поляризация рентгеновских лучей и экстинкция в реальных кристалах

• Автор: Маркович, Владимир Леонович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Минск
• Количество страниц: 145 c. : ил

'ОГЛАВЛЕНИЕ

Глава I. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В МОНОКРИСТАЛЛАХ СО СТАТИСТИЧЕСКИМ РАСПРЕДЕЛЕНИЕМ ДЕФЕКТОВ (литературный обзор)
1.1. Основные положения динамической и кинематической теорий рассеяния рентгеновских лучей

1.2. Методы описания дифракции рентгеновских

лучей в дефектных кристаллах

1.3. Приближение теории экстинкции для реальных кристаллов

1.4. Влияние плотности дислокаций на интегральные характеристики рассеяния рентгеновских лучей

Глава 2. АППАРАТУРА И ГЛЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

2.1. Коэффициент поляризации и способы его экспериментального исследования

2.2. Трехкристальный спектрометр для измерения коэффициента поляризации

2.3. Методика измерения дифракционных характеристик на трехкристалъном спектрометре
2.4. Методика измерения поляризационного отношения
2.5. Приготовление образцов кремния и германия
с различной плотностью дислокаций и методика ее определения
Глава 3. ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, РАССЕЯННОГО РЕАЛЬНЫМИ КРИСТАЛЛАМИ КРЕМНИЯ, ГЕРМАНИЯ И ГРАФИТА
3.1. Угловая зависимость коэффициента поляризации в пределах брэгговских рефлексов III, 220,
440 в кристаллах кремния с различной плотностью дислокаций
3.2. Угловая зависимость коэффициента поляризации для дислокационных кристаллов германия

3.3. Поляризационное отношение и интегральная интенсивность для дислокационных кристаллов кремния в Аloiu излучении
3.4. Поляризационные характеристики графитовых монохроматоров^
Глава 4. АНАЛИЗ ХАРАКТЕРА ИЗМЕНЕНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИОННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК ДИФРАКЦИИ С ПЛОТНОСТЬЮ ДИСЛОКАЦИЙ И ПРЕДЕЛЫ ПРИМЕНИМОСТИ ТЕОРИИ
ЭКСТИНКЦИИ
4.1. Угловая зависимость коэффициента поляризации
для совершенных кристаллов
4.2. Расчет коэффициента поляризации для мозаичных кристаллов
4.2.1. Случай первичной экстинкции
4.2.2. Случай вторичной экстинкции
4.3. Интегральная интенсивность и поляризационные характеристики для слабо искаженных
кристаллов
4.4. Угловая зависимость коэффициента поляризации и экстинкция в мозаичных кристаллах
Глава 5. УЧЕТ ЭКСТИНКЦИИ В МОЗАИЧНЫХ КРИСТАЛЛАХ ПРИ
ИЗМЕРЕНИЯХ СТРУКТУРНЫХ ФАКТОРОВ
5.1. Зависимость фактора экстинкции для мозаичных кристаллов от величины структурного фактора
и длины волны
5.2. Учет экстинкции при экспериментальном определении структурных факторов фтористого
натрия
5.3. Учет экстинкции при экспериментальном определении структурных факторов фтористого лития
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ
ЛИТЕРАТУРА

Развитие различных областей современной промышленности, в частности радиоэлектроники, оптоэлектроники, микроэлектроники и др., предъявляет повышенные требования к качеству используемых материалов, их чистоте и совершенству структуры. Вместе с тем, важнейшие для применения свойства кристаллов в значительной мере зависят от дефектов структуры. Например, примеси определяют электрические и оптические свойства полупроводников, дислокации - прочностные свойства металлов и сплавов и т.д. Поэтому изучение различных несовершенств в реальных кристаллах и развитие методов их исследования является в настоящее время одной из актуальных задач физики твердого тела.
Среди различных методов исследования дефектов существенную роль играют такие методы неразрушающего контроля образцов, как рентгенографические и нейтронографические, к основным достоинствам которых можно отнести их большую чувствительность к типу и степени дефектности, простоту и экспрессность. Успех применения рентгенодифрактометрических методов в исследовании структуры и свойств реальных кристаллов непосредственно зависит от познания механизма рассеяния излучений искаженной кристаллической решеткой. В связи с этим большой интерес представляет изучение различных дифракционных характеристик для реальных кристаллов, способствующих раскрытию механизма рассеяния.
Важным явлением в рассеянии рентгеновских лучей в реальных кристаллах является экстинкция - ослабление интегральной интенсивности по сравнению с интенсивностью рассеяния от

Рис. 2.3. Трехкристальный дифрактометр для измерений поляризационных характеристик кристаллов