Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
- Автор:
Федоров, Алексей Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Взаимодействие примесей углерода в железе: ab initio моделирование | Ридный, Ярослав Максимович | 2019 |
| Влияние размера и формы наночастиц металлов на их температуру плавления в различных матрицах конденсированного состояния | Бандин, Антон Евгеньевич | 2013 |
| Атомная структура поверхности GaAs(001)-4х2 при малой степени покрытия йодом | Веденеев, Александр Александрович | 2007 |