Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
- Автор:
Федоров, Алексей Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии», автор — Федоров, Алексей Алексеевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Новосибирск в 2002 году. Объем работы: 172 с.. Внутренний код товара: 01002339833. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Магнитотранспортные свойства манганитных тонких плёнок, бикристаллических контактов и многослойных ферромагнитных структур | Петржик, Андрей Михайлович | 2014 |
| Температурная зависимость лондоновской глубины проникновения в купратных ВТСП | Сюняев Даниил Альбертович | 2017 |
| Мезоскопические эффекты в низкоразмерных сильнокоррелированных бозонных и спиновых системах | Карцев, Пётр Фёдорович | 2004 |