Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
- Автор:
Федоров, Алексей Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Локальная атомная и магнитная структура аморфных и нанокристаллических сплавов на основе Fe-B | Дмитриева, Татьяна Геннадьевна | 2012 |
| Процессы переноса зарядов и люминесценция анион-дефектных оксидов с глубокими ловушками | Никифоров Сергей Владимирович | 2016 |
| Формирование оптических и механических свойств кристаллических и аморфно-нанокристаллических материалов при селективной лазерной обработке нано- и микрообластей | Ушаков, Иван Владимирович | 2008 |