Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
- Автор:
Федоров, Алексей Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Поверхностно-ионизационные свойства окисленных микролегированных сплавов молибдена | Нагорнов, Константин Олегович | 2010 |
| Остаточное диполь - дипольное взаимодействие в ЯМР исследованиях пространственного строения олигопептидов | Клочков, Антон Владимирович | 2008 |
| Поляризационные процессы в слоях аморфного оксида алюминия, полученного методом молекулярного наслаивания | Борисова, Татьяна Михайловна | 2014 |