Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
- Автор:
Федоров, Алексей Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
172 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Зернограничная диффузия меди в алюминии и в сплавах алюминий-медь и алюминий-церий | Долгополов Николай Александрович | 2015 |
| Теоретическое исследование атомного и магнитного упорядочения в бинарных сплавах с объемноцентрированной кубической решеткой | Лев, Вениамин Давидович | 1984 |
| Влияние интерфейсов и поликристаллической структуры CVD-графена на транспорт носителей заряда | Бабичев, Андрей Владимирович | 2014 |