Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов
- Автор:
Еханин, Сергей Георгиевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Томск
- Количество страниц:
304 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электронная структура и спиновые свойства дефектов в широкозонных полупроводниках: нитриде алюминия и карбиде кремния | Солтамов, Виктор Андреевич | 2012 |
| Электронная структура дисилицидов молибдена, вольфрама и рения | Бабушкина, Елена Владимировна | 2005 |
| Исследование процессов биолюминесценции Ca2+-регулируемого фотопротеина обелина | Антипина, Любовь Юрьевна | 2010 |