Определение атомных парных корреляционных функций оксидных пленок никеля методом протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов

• Автор: Бакиева, Ольга Ринатовна
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2008
• Место защиты: Ижевск
• Количество страниц: 129 с. : ил.

Оглавление
Введение
Глава
Тонкие оксидные пленки на поверхности никеля и их физикохимические свойства. Методы анализа атомной структуры тонких
пленок
Глава 2.
Спектры протяженных тонких структур энергетических потерь электронов (ЕИЛ)
2.1. Структуры в спектрах эмиссии электронов
2»2. Теория протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов
2.2.1. Неупругое рассеяние падающего электрона на атоме
2.3. Расчет амплитуд и интенсивностей электронных переходов
2.4. Интенсивность БЕРТв-процесса в экспериментах с геометрией обратного рассеяния падающих электронов от поверхности образца
2.5. Интегральное уравнение ЕЕЬРЗ-процесса
2.6. Результаты и выводы
Глава 3.
Предварительная аттестация исследуемых объектов
3.1. Изготовление образцов
3.2. Топография поверхности
3.3. Исследование химического состава исследуемых образцов
Глава 4.
ЕЕЬГЗ-экспериментальные данные
4.1, Предварительная обработка ЕЕЬР8-спектров
4.2. Выделение осциллирующей части ЕЕЬРБ спектра

4.3. Учет дисперсии вторичного электрона
4.4. Сравнение экспериментальных и расчетных осциллирующих частей Мгз-ЕЕЬР8 спектров никеля и К-ЕЕЬРЗ спектров кислорода
4.5. Получение параметров локальной атомной структуры из ЕЕЬРБ-экспериментальных данных никеля и сверхтонких оксидных пленок на его поверхности
Заключение
Список литературы

Введение
Актуальность темы
Макроскопические свойства вещества в конденсированном состоянии определяются его микроскопическими характеристиками, а именно: атомной структурой и структурой электронной подсистемы. При этом атомная и электронная структура вещества тесно взаимосвязаны. Таким образом, для понимания макроскопических характеристик исследуемого объекта необходимы экспериментальные данные об атомной и электронной структуре исследуемого образца [1-4].
Наибольший прогресс в области исследования взаимосвязи макроскопических характеристик с атомной структурой и структурой электронной подсистемы вещества был достигнут при исследовании массивных монокристаллов. В этом случае экспериментальные результаты исследований атомной и электронной структур, вместе с теоретическими методами расчетов электронной структуры исследуемых образцов, позволили успешно описать многие макроскопические характеристики исследуемых объектов и получить хорошее соответствие с экспериментальными данными [2, 4, 5, 11].
Гораздо более сложными объектами для выяснения взаимосвязи микроскопических и макроскопических характеристик являются вещества в аморфном и жидком состояниях. На сегодняшний день развитие экспериментальных методов малоуглового рассеяния рентгеновских лучей и дифракции рентгеновских лучей в области аномального рассеяния, вместе с успехами в расчетах электронной структуры и молекулярной динамики неупорядорядоченных объектов, привели к существенному прогрессу в решении этой задачи [9, 12, 18].
Наиболее сложными объектами для анализа химического состава, электронной структуры и атомной структуры являются тонкие (порядка

(безрадиационной релаксации) дырки на внутреннем уровне атома вещества с участием двух электронов. Поскольку энергии Оже-электронов определяются энергиями связи дырки на внутреннем уровне и электронов, участвующих в процессе ее релаксации, то положения Оже-пиков и их интенсивности характеризуют химический состав исследуемой области поверхности образца. Кроме того, химические сдвиги и формы Оже-пиков используют при анализе химических связей в исследуемом образце.