Электронная структура и фазовый состав тонких пленок на основе углерода и кремния, определенные методом ультрамягкой рентгеновской спектроскопии
- Автор:
Шамин, Сергей Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
130 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Анализ двойникования кристаллов мартенситной фазы в сплавах с эффектами памяти формы | Чжэн Шаотао | 2011 |
| Моделирование релаксационных процессов в твердых диэлектриках в рамках теории линейных гармонических колебаний | Ильина, Виктория Владимировна | 2008 |
| Исследование особенностей структуры и кинетики фононов в диэлектрических микронеоднородных материалах методом тепловых импульсов | Таранов, Андрей Вадимович | 2002 |