Морфология и структура поверхности на начальных стадиях роста пленок GeSi и GeSiSn на Si(100)
- Автор:
Тимофеев, Вячеслав Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
171 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптические свойства квантовых точек InAs, выращенных на вицинальных подложках GaAs | Динь Шон Тхак | 2000 |
| Люминесценция, электронные возбуждения и дефекты в объемных и волоконных кристаллах ортобората лития | Седунова, Ирина Николаевна | 2012 |
| ЭПР и закономерности распределения парамагнитных точечных дефектов в кристаллах | Низамутдинов, Назым Минсафович | 2000 |