Морфология и структура поверхности на начальных стадиях роста пленок GeSi и GeSiSn на Si(100)
- Автор:
Тимофеев, Вячеслав Алексеевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
171 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние неидеальности решётки кремниевых и фуллеренсодержащих структур на их оптические и электрические свойства | Шевченко, Алексей Иванович | 2017 |
| Моделирование роста диэлектрической пленки ZrO2(HfO2) и изучение электрических свойств границы раздела диэлектрик-металл | Искандарова, Инна Марсовна | 2006 |
| Строение поверхностей аморфных и монокристаллических материалов, отличающихся по типу химической связи, и нанесённых на них многослойных покрытий по данным рентгеновской рефлектометрии | Рощин, Борис Сергеевич | 2009 |