Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур
- Автор:
Турьянский, Александр Георгиевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
306 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур», автор — Турьянский, Александр Георгиевич, относится к типу: докторская диссертация по специальности 01.04.05. Работа подготовлена в городе Москва в 2008 году. Объем работы: 306 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004391573. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Селективная спектроскопия неупорядоченных молекулярных систем | Харламов, Борис Михайлович | 1998 |
| Субволновая фокусировка света с помощью диэлектрических элементов микрооптики | Стафеев, Сергей Сергеевич | 2012 |
| Оптические методы исследования металлических наночастиц на поверхности прозрачных диэлектриков | Логунов, Александр Евгеньевич | 2009 |