Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур
- Автор:
Турьянский, Александр Георгиевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
306 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Вторичное излучение микрокристаллов со структурой типа алмаза и сфалерита | Пузов, Игорь Петрович | 1999 |
| Оптические и оптомеханические взаимодействия в наноструктурных просветляющих и нанофокусирующих системах | Шалин, Александр Сергеевич | 2014 |
| Многочастичные эффекты при резонансном неупругом рассеянии фотона атомом и молекулой | Надолинский, Алексей Михайлович | 2009 |