Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур
- Автор:
Турьянский, Александр Георгиевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
306 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Повышение чувствительности оптико-физических измерений путем нелинейной обработки изображений | Носков, Михаил Федорович | 2007 |
| Флуктуационная структура лазерного излучения в открытых каналах распространения | Зотов, Алексей Михайлович | 2003 |
| Многоканальный интерферометр для доплеровской анемоментии | Машек, Игорь Чеславович | 1983 |