Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур
- Автор:
Турьянский, Александр Георгиевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
306 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотолюминесцентные свойства оксидных люминофоров в системе [Al2O3×B2O3×SiO2]:Eu | Широков, Александр Викторович | 2012 |
| Переходные процессы при параметрическом взаимодействии встречных волн | Ткаченко, Виктор Александрович | 2018 |
| Влияние локальных полей на параметры бесфононных спектральных линий одиночных молекул террилена в неупорядоченных твердых средах | Аникушина, Татьяна Алексеевна | 2018 |