Спектроскопия упругого отражения электронов как метод диагностики поверхности твердого тела
- Автор:
Чистотин, Игорь Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07, 01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
159 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности процессов образования радиационных дефектов в полупроводниковых материалах IV группы и нитридах III группы с мелкими примесями | Емцев, Константин Вадимович | 2006 |
| Закономерности и механизмы изменения кристаллографической текстуры оболочечных труб из сплава Zr-1%Nb при термической ползучести | Сое Сан Тху | 2015 |
| Перестройка атомной структуры расплавов железа и палладия в процессе стеклования | Вахмин, Сергей Юрьевич | 2012 |