Физические механизмы повреждения интегральных микросхем в электромагнитных полях импульсного радиоизлучения
- Автор:
Солодов, Александр Владимирович
- Шифр специальности:
01.04.03
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
187 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Шумы и предельная чувствительность датчиков низкочастотного электромагнитного поля в морской воде | Максименко, Валерий Григорьевич | 2008 |
| Радиофизические методы обнаружения и формирования изображений протяженных источников излучения | Костылев, Владимир Иванович | 2002 |
| Электродинамический анализ планарных и квазипланарных СВЧ структур | Лерер, Виктория Александровна | 2007 |