Использование нерегулярных микрополосковых резонаторов для измерения температурных зависимостей магнитной проницаемости порошков ферритов

• Автор: Доценко, Ольга Александровна
• Шифр специальности: 01.04.03
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2007
• Место защиты: Томск
• Количество страниц: 115 с. : ил.

СПИСОК ОБОЗНАЧЕНИЙ И СОКРАЩЕНИЙ
АЧХ - амплитудно-частотная характеристика;
НМПР - нерегулярный микрополосковый резонатор;
ПНМПР - перестраиваемый нерегулярный микрополосковый резонатор; МПЛ - микрополосковая линия;
ЕФМР - естественный ферромагнитный резонанс;
РДГ - резонанс доменных границ;
ОЛН - ось лёгкого намагничивания;
КЛН - конус лёгкого намагничивания;
ПЛН - плоскость лёгкого намагничивания;
СВЧ - сверхвысокочастотный;
МПЛ - микрополосковая линия;
МКА - магнитная кристаллографическая анизотропия;
СВС - самораспространяющийся высокотемпературный синтез; є*=е' - іє" - комплексная диэлектрическая проницаемость; р*=р' - іц" - комплексная магнитная проницаемость;
/ефмр-частота естественного ферромагнитного резонанса;
Т - температура; р - плотность;
/ -среднее значение (первый момент);
0 - основное отклонение;
а - коэффициент асимметрии;
1 - коэффициент эксцесса;
6£ - тангенс угла диэлектрических потерь;
ТКе-температурный коэффициент диэлектрической проницаемости; ТКф-температурный коэффициент угла диэлектрических потерь;
ТКх- температурный коэффициент линейного расширения.

ГЛАВА 1. ЧАСТОТНЫЕ ЗАВИСИМОСТИ КОМПЛЕКСНОЙ МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ГЕКСАФЕРРИТОВ В МИКРОВОЛНОВОМ ДИАПАЗОНЕ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ. АНАЛИТИЧЕСКИЙ ОБЗОР ЛИТЕРАТУРНЫХ ИСТОЧНИКОВ
1.1. Электромагнитные характеристики ферритов
1.2. Связь динамических и статических магнитных характеристик ферритов
1.3. Влияние температуры на магнитные свойства гексаферритов
1.4. Современная технология производства сплошных гексаферритов, крупнозернистых и наноразмерных порошков
1.5. Электромагнитные свойства композиционных материалов
1.6. Современные экспериментальные средства
1.7. Выводы
ГЛАВА 2. ИССЛЕДОВАНИЕ НЕРЕГУЛЯРНОГО МИКРОПОЛОСКОВОГО РЕЗОНАТОРА
2.1. Описание конструкции измерительной ячейки
2.2. Теоретическое исследование амплитудно-частотной характеристики НМПР
2.2.1. Влияние диэлектрических параметров
2.2.2. Влияние магнитных параметров
2.2.3. Влияние магнитных параметров па первую моду
2.2.4. Влияние магнитных параметров на вторую-третью моды
2.3. Алгоритм вычисления величин комплексной магнитной проницаемости по результатам эксперимента
2.3.1. Метод двух максимумов. Измерение магнитной проницаемости материалов с малыми потерями
2.3.2. Метод моментов. Измерение магнитной проницаемости материалов с большими потерями
2.4. Выводы

ГЛАВА 3. АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ РАДИОСПЕКТРОСКОП ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ ЗАВИСИМОСТЕЙ СПЕКТРОВ МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
3 Л .Описание установки
3.2. СВЧ тракт
3.3. Описание измерительных ячеек
3.4. Температурный блок
3.5. Измерительно-вычислительный комплекс для сбора и обработки данных
3.6. Оценка погрешности измерений
3.7. Оценка достоверности измерений
3.8. Выводы
ГЛАВА 4. ИЗМЕРЕНИЕ СПЕКТРОВ МАГНИТНОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
4.1. Выбор объекта исследования
4.2. Синтез материалов и приготовление образцов
4.3. Температурные зависимости магнитной проницаемости гексаферритов Соо,72п1;з\С Соо^П|>4У и Со1Ш
4.3.1. Сплошные образцы
4.3.2. Порошки и нанопорошки
4.4. Температурные зависимости спектров магнитной проницаемости гексаферритов СоТ1М, Со^Тц^М, Хп2У
4.5. Коэффициент отражения поглощающего слоя на основе гексаферрита ¥-типа
4.6. Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ
ПРИЛОЖЕНИЕ

Чтобы получить возможность сравнивать ряды распределения, необходимо привести их к одинаковому основанию таким образом, чтобы объёмы рядов были равны. В нашем случае сравнивается ряд экспериментальных величин и ряд, соответствующий расчётным значениям резонансной кривой. Во всех приводимых далее формулах: /-значение частоты, а и- соответствующая ей интенсивность экспериментальной кривой (или значение коэффициента передачи для расчётной кривой).
Определёнными численными характеристиками различных свойств случайных величин являются основные моменты, которые определяются как
где цн - центральный момент к -го порядка, о* - основное отклонение в соответствующей степени.
В [78, 79] отмечено, что достаточно полное представление о характере кривой распределения получается, если одновременно известны 4 момента: среднее значение, основное отклонение, коэффициент асимметрии и коэффициент эксцесса.
Среднее значение задаётся формулой
и характеризует положение ряда распределения. Обозначим объём нашего
Основное отклонение а представляет численную характеристику сжатости или разбросанности значений ряда и задаётся формулой
Третий основной момент г3, называемый коэффициентом асимметрии либо мерой косости кривой распределения, определяется как

(2.1)
(2.2)

ряда распределения как и - Т и,.
(2.3)