Детектирование субмикронных магнитных структур методами рассеяния света с пространственной фильтрацией

• Автор: Николаев, Алексей Владимирович
• Шифр специальности: 01.04.03
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2003
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 137 с.

Оглавление
ВВЕДЕНИЕ
Глава 1. Литературный обзор
1.1. Основные положения теории микромагнетизма
1.2. Доменные структуры, стенки, их внутренняя структура. Вертикальные и горизонтальные линии Блоха
1.3. Динамические свойства доменных границ и линий Блоха
1.4. Магнитооптическое детектирование магнитных структур
1.4.1. Магнитооптические эффекты и магнитооптическая микроскопия в проходящем и отраженном свете
1.4.2. Способы улучшения пространственного разрешения и детектирующей способности магнитооптической микроскопии
1.4.3. Метод анизотропного темного поля. Дифракция света на магнитных структурах
1.4.4. Сканирующая зондовая микроскопия магнитных микроструктур
Глава 2. Экспериментальная установка и методика эксперимента..
2.1. Установка высокоскоростной фотографии и анизотропного темнопольного наблюдения
2.2. Компьютерная система регистрации и обработки изображений
Глава 3. Исследование формирования изображения магнитных микроструктур при рассеянии света и его пространственной фильтраци
3.1. Наблюдение ВБЛ и ДГ в различных геометриях метода анизотропной темнопольной подсветки
3.1.1. Наблюдение линий Блоха при помощи метода PADO - polarized anisotropic dark field observation
3.1.2. Наблюдение ВБЛ и ДГ в модифицированной геометрии анизотропного темного поля

3.1.3. Физический механизм формирования изображения линий Блоха в модифицированной геометрии анизотропной темнопольной подсветки
3.2. Наблюдение магнитных микро- и наноструктур с применением магнитооптической микроскопии темного поля
3.2.1. Наблюдение коллапса цилиндрических магнитных доменов
3.2.2. Возможности применения метода темного поля при изучении динамики перемагничивания монодоменных наночастиц
3.3. Визуализация ВБЛ методами компьютерной обработки оптических изображений
3.4. Отличительные особенности магнитооптической микроскопии темного поля; возможности и ограничения методики при наблюдении магнитных микро- и наноструктур
Глава 4. Исследование динамических преобразований внутренней структуры доменных границ с применением метода темного поля
4.1. Исследование динамики доменных границ и зарождения линий Блоха в импульсных полях смещения
4.2. Исследование продвижения ВБЛ при воздействии импульсными полями в плоскости
Глава 5. Модификация структуры доменной границы локальным
лазерным воздействием
5.1. Методика эксперимента
5.2. Перемещение вертикальных линий Блоха в результате локального лазерного воздействия
5.3. Зарождение линий Блоха. Влияние параметров оптического воздействия на характер модификации доменной границы
5.3.1. Зарождение линий Блоха путем локального лазерного воздействия
5.3.2. Влияние степени фокусировки оптического излучения на вероятность зарождения ВБЛ при его локализации в центре полосового домена

5.3.3. Влияние положения светового пучка относительно ДГ на зарождение ВБЛ
5.3.4. Влияние мощности лазерного пучка на зарождение ВБЛ
5.4. Динамические процессы в доменной структуре и ДГ после воздействия импульса
лазера
5.5. Обсуждение результатов
5.6. Новые возможности оптической записи-считывания информации в магнитных
средах
ВЫВОДЫ
ЛИТЕРАТУРА

1.4.3. Метод анизотропного темного поля. Дифракция света на магнитных структурах.
Метод анизотропного темного поля.
Метод темного поля хорошо известен и распространен в материаловедении, биологии, минералогии и т.д. и предназначен для визуализации фазовой структуры исследуемого объекта и выделения областей, слабо отличающихся от своего окружения по оптическим свойствам [65]. Исследуемый образец подсвечивается через высокоапертурный конденсор с диафрагмированной центральной частью так, что падающий на образец поток света представляет собой полый конус (рис. 16). Если апертура объектива ниже апертуры конденсора, то происходит пространственная фильтрация пучка подсветки и в объектив попадает лишь свет, испытавший рассеяние на фазовых неоднородностях образца.
В отношении пространственного разрешения метод темного поля практически
Рис. 16. Схема наблюдения фазовых объектов по методу темного поля.