Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста
- Автор:
Тарасов, Иван Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Красноярск
- Количество страниц:
137 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Генератор высокоскоростных жидких частиц | Шепелев, Станислав Михайлович | 2007 |
| Многоканальная ионизационная камера для цифровой рентгенографии | Поросев, Вячеслав Викторович | 2002 |
| Мощные источники лазерного излучения на основе квантово-размерных гетероструктур | Тер-Мартиросян, Александр Леонович | 2014 |