Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста
- Автор:
Тарасов, Иван Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Красноярск
- Количество страниц:
137 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Устройства и методы для изучения механических свойств анизотропных стеклопластиковых стержней | Блазнов, Алексей Николаевич | 2009 |
| Механизмы переноса частиц и формирования полей загрязнения, обусловленного техногенными атмосферными выбросами | Шепотенко, Наталья Анатольевна | 2003 |
| Система сбора данных в экспериментах по исследованию эффектов каналирования заряженных частиц в монокристаллах | Форыцки, Адам | 1984 |