Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста
- Автор:
Тарасов, Иван Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Красноярск
- Количество страниц:
137 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Высокоскоростные проволочные камеры нового поколения и особенности развития в них газового разряда | Залиханов, Борис Жанакаитович | 2006 |
| Пылеударный масс-спектрометр для определения элементного состава микрометеороидов и частиц космического мусора | Помельников, Роман Александрович | 2013 |
| Разработка источника мюонов и детекторной системы для поиска редких мюонных процессов | Джилкибаев, Рашид Максудович | 2012 |