Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста
- Автор:
Тарасов, Иван Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Красноярск
- Количество страниц:
137 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Автоматизация моделирования физических процессов в задачах приборостроения | Сизова, Наталья Дмитриевна | 2004 |
| Управление транспортировкой заряженных частиц высокочастотными электрическими полями с квазидискретным спектром | Бердников, Александр Сергеевич | 2012 |
| Временные и пространственные вариации заряженного излучения в атмосфере Земли | Свиржевский, Николай Саввич | 2002 |