Численный анализ свойств отражательных дифракционных решеток для рентгеновского излучения
- Автор:
Горай, Леонид Иванович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
133 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Мюонный метод исследований в физике твердого тела | Селиванов, Владимир Иванович | 1984 |
| Разработка и применение компьютеризированных приборов для проведения комплексных исследований спектральными методами | Сорокин, Алексей Михайлович | 2002 |
| Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии | Савин, Владислав Олегович | 2002 |