+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Метод регистрации частиц, сопровождающих деление

Метод регистрации частиц, сопровождающих деление
  • Автор:

    Дунаев, Михаил Владимирович

  • Шифр специальности:

    01.04.01

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2005

  • Место защиты:

    Обнинск

  • Количество страниц:

    113 с. : ил.

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
"1. Общие принципы цифровой обработки сигнала 
1.1 Аналоговые и цифровые методы обработки сигнала

1. Общие принципы цифровой обработки сигнала

1.1 Аналоговые и цифровые методы обработки сигнала

1.2 Аппаратные средства ЦОС систем для ГОМ РС

1.3 Программное обеспечение ЦОС систем для 1ВМ РС


1.4 ЦОС-алгоритмы, для эмуляции работы наиболее распространенных в эдерно-физическом эксперименте электронных блоков

1.5 Выводы к главе

2. Цифровой спектрометр для регистрации легких заряженных

частиц, сопровождающих деление

2.1 Свойства Сз1(Т1)

2.2 Изучение люминесцентных свойств кристалла Сз1(Т1) цифровыми методами

2.3 Применение кристалла Сз1(Т1) в спектрометре для регистрации тройного деления


2.4 Изучение тройного деления 232ТТт
2.5 Выводы к главе
3. Цифровой спектрометр для регистрации
мгновенных нейтронов деления
3.1 Установка для отработки алгоритмов получения амплитудных распределений и п-у разделения

3.2 Изучение отклика спектрометра
3.3 Разделение нейтронов и у-квантов
3.4 Время-пролетные измерения
3.5 Выводы к главе 4 Заключение Список литературы
Почти все события деления сопровождаются эмиссией легких частиц, если принять во внимание нейтроны, испаряющиеся из осколков. Этот процесс вызывает наибольший интерес для понимания динамики процесса деления. Эмиссия легких частиц является поставщиком уникальной информации о ранних стадиях эволюции делящейся системы. Энергетические и угловые распределения частиц, сопровождающих деление, несут в себе наиболее прямую информацию о деформации и взаимном расположении осколков непосредственно в момент разрыва делящейся системы.
Для исследования данных событий традиционно используются системы из двух или более (ДЕ+Е) полупроводниковых детекторов [1, 2]. Такая схема эксперимента обладает низкой светосилой, и нашла свое применение при спонтанном делении и делении под действием тепловых нейтронов, где можно обеспечить необходимую для анализа статистику. Кроме того, очевидным недостатком такой системы является высокий порог регистрации легкой частицы, который определяется полным ее поглощением в АЕ детекторе. Другим примером установок данного типа являются сложные многодетекторные устройства с большой эффективностью регистрации легкой частицы [3]. Детекторы этого типа прекрасно зарекомендовали себя, однако громоздкость и сложность таких установок делает невозможным их использование на пучках не только быстрых, но и тепловых нейтронов, а

спектру излучения СвКТІ), что позволяет добиться лучшего соотношения сигнал/шум. Оптический контакт между кристаллом Сз1(Т1) и ФЭУ, обеспечивался путем введения синтетического масла ВМ-6.
Для изучения спектрометрических и временных свойств кристаллов Секті) в качестве источника а-частиц, р - частиц и у-лучей использовался коллимированный пучок (слой Яа-226, коллиматор: ф ~ 1.5 мм, толщина 0.2 мм). Сцинтилляционный детектор упаковывали в металлический контейнер, непроницаемый для внешнего света (рис. 13). Сигналы с анода ФЭУ поступали на спектрометрический усилитель с временем формирования (КС)диф= (ЯС)^ = 4 мкс а затем на вход АЦП. Сигналы с динода ФЭУ после быстрого усилителя использовались для временного анализа.
Ри-Ве
нейтронный
источник
Рисунок 13. Схема установки для испытания спектрометра с кристаллом СбЦИ)

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.200, запросов: 967