Развитие математического и программного обеспечения подсистемы тестирования для САПР аналогых и смешанных интегральных схем

• Автор: Мосин, Сергей Геннадьевич
• Шифр специальности: 05.13.12
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2000
• Место защиты: Владимир
• Количество страниц: 175 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ

СПИСОК ПРИНЯТЫХ СОКРАЩЕНИЙ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. СОСТОЯНИЕ В ОБЛАСТИ МЕТОДОВ И СРЕДСТВ САПР ТЕСТИРОВАНИЯ АНАЛОГОВЫХ И СМЕШАННЫХ ИМС. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧ ИССЛЕДОВАНИЙ
1.1. Состояние в области тестирования аналоговых
и смешанных ИМС
1.2. Состояние в области САПР тестирования
аналоговых и смешанных ИМС
1.3. Особенности проведения тестовых мероприятий
1.4. Цель и постановка задач исследований
1.5. Выводы
ГЛАВА 2. РАЗРАБОТКА МАТЕМАТИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ
ПОДСИСТЕМЫ ТЕСТИРОВАНИЯ АНАЛОГОВЫХ И СМЕШАННЫХ ИМС
2.1. Методика построения справочника неисправностей
на основе анализа чувствительности
2.2. Отбор частот входного тестового сигнала и
минимизации справочника неисправностей
2.3. Методика выявления в тестируемой схеме
неисправного компонента
2.4. Выводы
ГЛАВА 3. РАЗРАБОТКА СТРУКТУРЫ ПРОГРАММНОГО
ОБЕСПЕЧЕНИЯ ПОДСИСТЕМЫ ТЕСТИРОВАНИЯ
3.1. Разработка программного обеспечения
подсистемы тестирования

3.2. Алгоритм формирования справочника неисправностей
и выбора частот входного тестового сигнала
3.3. Алгоритм выявления в тестируемой схеме
неисправного компонента
3.4. Выводы
ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОДСИСТЕМЫ МНОГОЧАСТОТНОГО
ФУНКЦИОНАЛЬНОГО ТЕСТИРОВАНИЯ
4.1. Выполнение тестовых мероприятий на примере пассивного режекторного ДС-фильтра
4.2. Построение справочника неисправностей и тестового вектора
на примере полосового фильтра
4.3. Процесс выявление неисправных компонентов на
примере схемы банка фильтров
4.4. Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
ПРИЛОЖЕНИЕ
СПИСОК ПРИНЯТЫХ СОКРАЩЕНИЙ
АСхП Автоматизация схемотехнического проектирования
АЦП Аналого-цифровой преобразователь
АЧХ Амплитудно-частотная характеристика
БПФ Быстрое преобразование Фурье
БФЛ Банк фильтров
ГУН Генератор, управляемый напряжением
имс Интегральная микросхема
ИНУН Источник напряжения, управляемый напряжением
ИНУТ Источник напряжения, управляемый током
ИТУН Источник тока, управляемый напряжением
ИТУТ Источник тока,,управляемый током
КМОП Комплиментарный метал-окисел-полупроводник
МО Математическое ожидание
МПСх Метод присоединенной схемы
МЭА Микроэлектронная аппаратура
ОЗУ Оперативное запоминающее устройство
ОС Операционная система
ОУ Операционный усилитель
пм Программный менеджер
по Программное обеспечение
ппп Пакет прикладных задач
псч Псевдослучайное число
РФ Режекторный фильтр
САПР Система автоматизированного проектирования
сн Справочник неисправностей
тг Тестовая группа
тмн Тестовое множество

Рис. 1.8. Структура 1-ВІ8Т
рощение операции получения тестовых воздействий. Особый интерес здесь представляет тестовый метод О-ВІБТ (05сШабоп-Я/57) [35, 36]. Используя этот метод, сложные аналоговые схемы разбиваются на функциональные встроенные блоки, например такие, как операционные усилители, компараторы, фильтры и т.д., или комбинацию этих устройств. В режиме тестирования каждый встроенный блок преобразуется в схему генератора. Частота ґ , которая генерируется каждым блоком, может быть выражена, как функция от их внутренних компонентов или характеристик. Генератор формируется таким образом, чтобы частота его сигнала была максимально чувствительна к изменениям во внутренних компонентах встроенного блока. Этот метод позволяет отказаться от генератора аналогового тестового вектора и устройства оценки выходных сигналов, а как следствие - уменьшить сложность тестирования и затраты на его проведение. Сокращается время тестирования, поскольку проверяться должна только одна частота для каждого встроенного блока. Существующие неисправности в тестируемой схеме, связанные с компонентами, входящими в структуру генератора, проявляют себя как отклонение генерируемой частоты. Кроме того, отклонение этой частоты за пределы допустимого интервала может быть исполь-