Туннельная спектроскопия двумерной электронной системы приповерхностного дельта-легированного слоя в GaAs
- Автор:
Котельников, Игорь Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
217 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование контактов металл-фосфид галлия и разработка УФ фотоприемников на их основе | Орлова, Татьяна Алексеевна | 1999 |
| Особенности структуры ионоимплантированных слоев кремния, выявленные с помощью рентгеновской дифрактометрии высокого разрешения | Курипятник, Андрей Валериевич | 2003 |
| Особенности трансформации наноалмазов при отжиге | Сиклицкая, Александра Вадимовна | 2014 |