Туннельная спектроскопия двумерной электронной системы приповерхностного дельта-легированного слоя в GaAs
- Автор:
Котельников, Игорь Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
217 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние состава и толщин слоев на электрофизические свойства квантово-размерных структур на основе ZnCdS/ZnSSe, ZnSSe/ZnMgSSe | Милованова, Оксана Александровна | 2010 |
| Исследование формирования, электронной структуры и свойств пленок полупроводниковых силицидов кальция на Si(111) | Безбабный, Дмитрий Александрович | 2014 |
| Исследование A+ центров в двумерных структурах на основе GaAs | Петров, Павел Вячеславович | 2006 |