Исследование структуры поликристаллов с помощью поляризационного тормозного излучения

• Автор: Гостищев, Николай Александрович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2008
• Место защиты: Белгород
• Количество страниц: 102 с. : ил.

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
Глава 1. Исследование зависимости положения максимумов спектральных пиков ПТИ релятивистских электронов в поликристалле от угла наблюдения излучения
1.1. Спектрально - угловое распределение интенсивности
ПТИ релятивистских электронов в частично упорядоченной среде
1.2. Зависимость структурных пиков ПТИ в поликристалле
от угла наблюдения излучения
1.3. Сравнение теоретических зависимостей с данными выполненных измерений
1.4. Выводы
Глава 2. Аномальный эффект плотности в ПТИ релятивистских электронов в поликристалле
2.1. Влияние эффекта плотности на характеристики ПТИ
релятивистских электронов в аморфной среде
2.2. Аномальный эффект плотности в когерентной составляющей
ПТИ в поликристалле
2.3. Выводы 53
Глава 3. Подавление эффекта плотности в ПТИ релятивистских электронов, пересекающих ограниченную
поликристаллическую мишень
3.1. Электромагнитные поля, возбуждаемые релятивистским электроном, влетающим в полубесконечную мишень
3.2. Подавление эффекта плотности в ПТИ релятивистских
электронов
3.3. Выводы

Глава 4. ПТИ релятивистских электронов, движущихся в поликристалле
в условиях проявления эффекта Вавилова - Черенкова
4.1 .Влияние дисперсии диэлектрической проницаемости на электромагнитное поле релятивистского электрона,
движущегося в поликристалле
4.2. Рост выхода ПТИ в условиях проявления
черенковского эффекта
4.3. Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Список литературы
ВВЕДЕНИЕ
АКТУАЛЬНОСТЬ РАБОТЫ
Основным методом диагностики атомной структуры материалов является рентгеноструктурный анализ, основанный на измерении углового распределения рассеянного изучаемым объектом квазимонохроматического рентгеновского излучения [1-8]. Развитие техники рентгеновских детекторов позволило создать в последнее время новый метод диагностики, заключающийся в измерении спектральных характеристик широкополосного первичного рентгеновского излучения, рассеянного на заданный угол [9-] 2]. Известный как EDXD (energy dispersive Х-гау diffraction) метод, обсуждаемый подход имеет ряд преимуществ, обусловленных, прежде всего, простотой и высокой скоростью набора спектрометрической информации.
Изучение поляризационного тормозного излучения (ПТИ) быстрых заряженных частиц на атомах в веществе [13-18] привело к осознанию перспективности использования ПТИ для целей диагностики структуры вещества [19]. Основаниями для такого вывода служат такие свойства ПТИ, как большая величина эффективного прицельного параметра столкновения излучающей частицы с атомом, сравнимая с атомным размером (данное обстоятельство приводит к высокой чувствительности ПТИ к междуатомным корреляциям в конденсированном веществе и, как следствие, к тесной связи спектрально-угловых свойств обсуждаемого излучения с параметрами среды, а также возможность использования для измерения спектра ПТИ обычных рентгеновских детекторов. По-существу, ПТИ является модифицированным EDXD методом рентгеновской диагностики. Действительно, аналогия становится очевидной, если трактовать механизм ПТИ как рассеяние виртуальных фотонов кулоновского поля налетающей заряженной частицы па атомах мишени. К достоинствам ПТИ следует отнести фактически точное
*01 ЫР

оа(КэВ)
Рис. 4 Спектральная кривая ПТИ из пленки алюминия, коллимированного под углом 75 градусов относительно скорости электронного пучка.