Исследование наблюдаемого распределения параметров тесных двойных звезд различных эволюционных классов

• Автор: Аввакумова, Екатерина Анатольевна
• Шифр специальности: 01.03.02
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2013
• Место защиты: Екатеринбург
• Количество страниц: 191 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
Введение
1 Тесные двойные звезды: методы исследования и определения эволюционной стадии
1.1 Классификация двойных звезд по методам обнаружения
1.2 Классическая физическая классификация двойных систем
1.3 Современная физическая классификация двойных систем
1.4 Определение эволюционного класса затменных переменных систем
1.5 Массивные контактные системы ранних спектральных классов
2 Каталог затменных переменных систем
2.1 Составление каталога затменных переменных звезд
2.2 Статистический анализ данных каталога
2.3 Критерии для классификации затменных переменных систем
2.4 Обсуждение результатов и выводы к главе 2
3 Классификация затменных переменных систем
3.1 Определение вероятности классификации
3.2 Проверка критериев классификации на системах с известным эволюционным классом
3.3 Классификация систем каталога
3.4 Неклассифицированные системы
3.5 Обсуждение результатов и выводы к главе 3
4 Влияние газового вещества общей оболочки на наблюдаемые фотометрические кривые изменения блеска контактных массивных систем ранних спектральных классов . .
4.1 Характеристики исследуемых объектов
4.2 Метод анализа кривых остаточных уклонений
4.3 Результаты анализа остаточных уклонений
4.4 Сравнение кривых остаточных уклонений
4.5 Обсуждение результатов и выводы к главе 4
Заключение

Список использованных источников
Список иллюстраций
Список таблиц
Приложение А Формат каталога
Приложение Б Системы, признанные не затменными
Приложение В Системы с противоречивой классификацией
Приложение Г Маргинальные системы

ВВЕДЕНИЕ
Актуальность работы
Двойные звезды весьма многочисленны и являются одним из немногих источников астрофизической информации об основных звездных параметрах. Наиболее важный параметр, характеризующий эволюцию звезды — масса, может быть с высокой точностью определен для компонентов двойных систем. Наблюдения двойных систем различными методами напрямую позволяют оценить радиусы, температуры и светимости компонентов, следовательно, связать между собой массы и наблюдаемые значения остальных параметров и перенести их на определение физических характеристик одиночных звезд.
Наблюдаемое разнообразие двойных звезд можно разделить на несколько классов в зависимости от методов, которыми открыта или исследуется двойственность объекта (астрометрические, спектроскопические, фотометрические и т.д.). Каждый из методов наблюдения и изучения систем предоставляет определенный набор данных, например, параметры орбиты, массы и другие характеристики компонентов. С точки зрения полноты информации наиболее интересными являются затменные переменные системы, которые одновременно наблюдаются как спектроскопические двойные звезды. Именно совокупность фотометрических и спектральных наблюдений позволяет получать полный набор физических характеристик компонентов пары.
Возникновение затмений в двойной системе накладывает на ориентацию орбиты и расстояние между компонентами пары достаточно сильные ограничения: чем шире пара, тем меньше плоскость орбиты должна отклоняться от луча зрения. Это приводит к тому, что большинство затменных систем относят к тесным парам, в которых эволюция одного из компонентов рано или поздно начинает влиять на эволюцию другого. Компонентами затменных тесных пар являются звезды самых разнообразных физических свойств, взаимодействие между ними приводит к возникновению эволюционных стадий, которые просто невозможны в случае одиночных звезд. Исследование эволюции и физических параметров тесных двойных систем необходимо для проверки теории образования и эволюции звезд, дает возможность изучать строение звездных атмосфер, процессы аккреции, объяснять многообразие наблюдаемых типов звезд.
Динамическая эволюция тесной двойной системы в целом может быть описана через решение ограниченной задачи трех тел. Основы такого подхода были заложены в работах

— Каталоги контактных систем различных подклассов Pribulla и др. [33], Shaw [34], Дремовой и др. [62], Полушиной [36], Csizmadia и Klagyivik [63], а также Gettel и др. [64].
На основе этих каталогов все системы разделены на три основных типа: разделенные (D), полуразделенные (S) и контактные (С). Каждый из них имеет несколько подтипов. В разделе
1.3 дано краткое описание каждого типа, который используется в каталоге, а также его символьное обозначение.
В приложении А описан формат каталога. В таблице 2.1 показаны для примера 15 строк каталога CEV. Часть звезд, имеющих в ОКПЗ типы, обозначающие затменную природу переменности, позже в оригинальных работах были признаны незатменными. Такие системы удалены из выборки, их список приведен в приложении Б.
2.2 Статистический анализ данных каталога
Разработка критериев классификации проведена на основе статистического анализа данных каталога, а именно на основе исследования наблюдаемого распределения основных параметров затменных переменных систем: амплитуд блеска, периодов, спектральных классов. Кроме того, статистический анализ данных каталога позволяет выделить маргинальные системы, значения параметров которых нехарактерны ни для одного из эволюционных классов, а также выявлять возможные ошибки значений параметров звезд каталога.
2.2.1 Морфологические типы кривых блеска
Все системы каталога имеют определенный морфологический тип кривой блеска: ЕА, ЕВ, EW или Е. Разделение кривых блеска на типы EW и ЕВ достаточно условно, однако поскольку в каталоге использовалась схема ОКПЗ, то не было сделано объединения кривых этих двух типов в тип ЕС, используемый, например, Pojmanski [49].
На рисунке 2.1 представлены гистограммы распределения систем различных эволюционных типов в зависимости от морфологического типа кривых блеска.
Из первых трех рисунков можно сделать следующие выводы:
— среди систем с ЕА кривыми блеска можно встретить все классы разделенных и полуразделенных систем; класс контактных представлен только СВ системами, которые, как указано выше, формально принадлежат к полуразделенным или разделенным системам;