Разработка основ теории параллельного диагностирования дискретных объектов

• Автор: Никифоров, Сергей Николаевич
• Шифр специальности: 05.12.04
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2007
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 310 с. : ил.

Оглавление
Введение
Системы и процедуры диагностирования
1.1. Последовательные системы диагностирования
1.1.1. Последовательная процедура поиска дефектов
1.1.2. Последовательная процедура с реверсированием теста
1.1.3. Последовательная процедура с продолжением теста
1.2. Параллельные процедуры диагностирования
1.2.1. Параллельная процедура с повторными запусками теста
1.2.2. Параллельная процедура с продолжением теста
1.2.3. Сравнение параллельных и последовательных процедур
1.3. Комбинированная процедура поиска дефектов
1.3.1. Г-процедура поиска дефектов

1.3.2. Графическая модель V- процедуры поиска дефектов
1.4. Процедуры поиска дефектов при неполном реверсировании теста
1.4.1. Параллельная процедура поиска дефектов при неполном реверсировании теста
1.4.2. У-процедура поиска дефектов при неполном реверсировании
теста
2. Конвейерное диагностирование
2.1. Метод конвейерного диагностирования
2.2. Конвейерное диагностирование с учетом вспомогательных операций
2.3. Сравнение конвейерного и параллельного диагностирования
2.4. Анализ конвейерного диагностирования с учетом аппаратурных затрат
2.5. Условие предпочтительности для стратегий 81 и
2.6. Производительность конвейерного диагностирования для

стратегий SI и S2
2.7. Сравнение последовательного конвейера с параллельным диагностированием с учетом аппаратурных затрат
2.8. Выводы по конвейерному диагностированию
3. Конвейерно-параллельное диагностирование
3.1. Сравнение конвейерно-параллельного диагностирования! a х
параллельного диагностирования
3.2. Среднее и фактическое время диагностирования одного объекта
4. Поточное диагностирование
4.1. Непрерывная (кольцевая) генерация теста
4.2. Сравнение метода поточного диагностирования с последовательной процедурой с реверсированием теста
4.3. Сравнение метода поточного диагностирования с параллельной процедурой с реверсированием теста
4.4. Сравнение метода поточного диагностирования с 1/-процедурой
4.5. Вычисление суммарных временных затрат при поточном

диагностировании

5. Обработка реакций

5.1. Классификация неисправностей в цифровых электронных модулях
2 1 S
5.2. Методы обработки реакций
5.3. Сравнительная оценка объемов памяти блока обработки реакций ..-6

5.4. Поиск дефектов методом сравнения с неисправным объектом

6. Пространство коммутации
7. Организация тестового пространства
8. Эффективность параллельных процедур

Заключение

Список литературы

Приложение 1. Вычисление суммарных временных затрат

Приложение 2. Вычисление функции неравнозначности
Приложение 3. Вычисление перманентов для матриц реакций ДО Яо, Яи
Я2, Яз, раздела
Приложение 4. Программа моделирования
Рис. 15. Граф поиска дефектов в двух ДО (Ы= 2), содержащих
два (//. = 2) и три (р2 = 3) дефекта, по параллельной процедуре с продолжением теста
В верхней части рис. 15 показан процесс поиска (и устранения) дефектов с использованием последовательной процедуры с продолжением теста для первого объекта, содержащего два дефекта, и отдельно для второго объекта, содержащего три дефекта. Объекты приведены те же, что и рассмотренные в примере раздела 2.1, рис. 14.
В соответствии с рис. 15 временные затраты на поиск и устранение дефектов отдельно в первом и втором объектах при последовательной процедуре с продолжением теста равны:
т'С!)
1 ппг.
ПОСЛ. прод.
т’(2) 1 пост
ПОСЛ. прод.
А в сумме для обоих объектов