Разработка стандартных образцов параметра кристаллической решетки для метрологического обеспечения дифрактометрии
- Автор:
Овчаров, Владимир Константинович
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
127 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Современные методы и средства прецизионной фотометрии | Столяревская, Раиса Иосифовна | 2000 |
| Разработка и исследование методов и средств измерений линейных размеров и твердости с применением полуконтактной сканирующей зондовой микроскопии и наноиндентирования | Соловьев, Владимир Витальевич | 2010 |
| Разработка и исследование методов оценивания результатов измерений в новых метрологических задачах | Чуновкина, Анна Гурьевна | 2010 |