Разработка стандартных образцов параметра кристаллической решетки для метрологического обеспечения дифрактометрии
- Автор:
Овчаров, Владимир Константинович
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
127 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методов и средств метрологического обеспечения радиационного контроля нейтронного излучения на ускорителях и импульсных реакторах | Мокров, Юрий Владимирович | 1998 |
| Методика определения оптимальных ограничений на вероятности ошибок 1-го и 2-го рода при планировании контроля партии изделий | Климачев, Денис Вадимович | 2004 |
| Разработка методов и средств повышения точности частотно-цифровых измерительных устройств на принципах автоматизации процессов измерений | Филимонов, Василий Валерьевич | 2007 |