Исследование и разработка методов и средств обеспечения метрологической надежности прецизионных микропроцессорных мультиметров

• Автор: Новиков, В. А.
• Шифр специальности: 05.11.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1993
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 191 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ

Введение
1.Принципы обеспечения метрологической надежности микропроцессорных мультиметров
1.1. Проблема метрологической надежности
прецизионных средств измерений
1.2.Метрологическая надежность
микропроцессорных мультиметров
1.3.Самодиагностирование микропроцессорных систем
1.4.Особенности самодиагноотирования
микропроцессорных мультиметров
Выеоды. Задачи исследования
2.Разработка системы самодиагностирования микропроцессорного мультиметра
2.1.Дели и критерии оптимизации системы самодиагностирования микропроцессорного мультиметра
2.2.Методика диагностирования.
Структура системы самодиагностирования
2.3.Характеристика встроенных средств функционального диагностирования микропроцессорных мультиметров
2.4.Характеристика встроенных средств тестового диагностирования микропроцессорных мультиметров.
Алгоритм тестового диагностирования
Выводы и основные результаты
3.Разработка метода и средств увеличения метрологической надежности микропроцессорных мультиметров
3.1.Система обеспечения метрологической надежности микропроцессорных мультиметров и
критерий ее оптимизации
3.2.Анализ модели микропроцессорного мультиметра
о позиций метрологической надежности
3.3.Разработка метода увеличения метрологической надежности микропроцессорных мультиметров, основанного
на использовании "интеллектуального эталона напряжения"
3.3.1.Групповой эталон напряжения
3.3.2.Преимущества использования ИЭН
в качестве ИОН ММ
3.3.3.Процедура контроля ИЗН ММ
3,3.4.Выбор допуска, обеспечивающего
наибольшую достоверность для
первого этапа контроля ИЭН ММ
3,3.5,Выбор допусков, обеспечивающих
наибольшую достоверность для
второго этапа контроля ИЭН ММ
3,3.6.Схема ИЭН и методика сличения
опорных стабилитронов
Выводы и основные результаты
4,Реализация методов и средств
обеспечения метрологической надежности
прецизионных микропроцессорных мультиметров
4.1.Встроенные средства функционального
и тестового диагностирования
4.1.1.Критерий оптимизации
системы самодиагностирования
4.1.3.Встроенные средства
функционального диагностирования
4.1.3.Встроенные средства
тестового диагностирования
4.2.Алгоритм работы источника опорного напряжения
4.2.1. Калибровка
4.3.2. Воспроизведение
4,2.3, Контроль
4.3.Погрешности источника опорного напряжения
4.3.1.Принципиальная электрическая схема ИОН
4.3.2.Погрешность для режима ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ
4.3.3,Погрешность для режима КОНТРОЛЬ
4.3.4.Погрешности поправок
4.4.Экспериментальные исследования
источника опорного напряжения 14ч
4.4.1, Машинное моделирование
4.4.2. Физический эксперимент
Выводы и основные результаты
Заключение
Основные результаты работы и выводы
Список литературы

Приложение 1. Принципиальная электрическая схема
источника опорного напряжения
Приложение 2. Перечень элементов
принципиальной электрической схемы
источника опорного напряжения
Приложение 3. Программа поиска оптимальных значений контрольных допусков для машинной
модели ИЭН: метод Хука-Дживса
Приложение 4. Программа поиска оптимальных значений контрольных допусков для машинной
модели ИЗН: метод Нелдера-Мида
Приложение 5. Программа выявления условий отказа
для машинной модели ИЗН
Приложение 6. Схема измерительной установки
для испытания ИЭН

фициентом
Кгп = F/R, (2.13)
где F - число однозначно различимых составных частей изделия на принятом уровне деления;
R - общее число составных частей изделия на принятом уровне деления, о точностью до которых требуется найти место дефекта.
При определении требований к ССД реального ММ, помимо интегрального показателя глубины поиска дефектов, могут быть полезны также аналогичные коэффициенты для отдельных функциональных узлов. Это объясняется тем, что на практике для каждого функционального узла индивидуально находят оптимальное сочетание дополняющих друг друга встроенных и внешних средств поиска дефектов. Поэтому коэффициент глубины поиска дефектов ММ предлагается вычислять по следующей формуле:

Кгп = ( Е Krn,i)/m, (2.14)

где Krn,i = Fi/Ri;
1 - номер функционального узла ММ;
m - число функциональных узлов ММ.
В задачвх оптимизации различного рода затратам, связанным с достижением поставленных целей, соответствует понятие стоимости /42/. В случае ССД ММ стоимость решения первых трех из сформулированных ранее задач можно характеризовать дополнительными затратами времени, электроэнергии, программной памяти, а также -увеличением массы, объема, стоимости и уменьшением безотказности ММ.
Временные затраты на самодиагностирование могут быть отражены с помошью комплексного показателя качества системы диагностирования - коэффициента использования объекта диагностирования /43/. Однако, значение этого коэффициента определяется не только системой самодиагностирования, но и внешними средствами проверки работоспособности и поиска дефектов, а также рядом других особенностей организации эксплуатации объекта диагностирования. По этой причине для характеристики Бремени невыполнения прибором заданных функций воспользуемся предложенным в /44/ коэффициентом готовности средств измерений, но при этом модифицируем его, исключив зависимость его значения от продолжительности