Методы идентификации процессов на фрактальных шкалах
- Автор:
Кобенко, Вадим Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Омск
- Количество страниц:
153 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка методов и средств обеспечения метрологической надежности прецизионных микропроцессорных мультиметров | Новиков, В. А. | 1993 |
| Разработка и исследование методов автоматизированных измерений электрических свойств сегнетоэлектриков | Печерская, Екатерина Анатольевна | 1999 |