Методы идентификации процессов на фрактальных шкалах
- Автор:
Кобенко, Вадим Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Омск
- Количество страниц:
153 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование методов и средств измерения характеристик тонкопленочных электролюминесцентных индикаторов | Фокин, Олег Сергеевич | 2000 |
| Автоматизация проектирования датчиков электрических величин как аппаратно-программных комплексов | Виноградов, Александр Борисович | 2000 |
| Контрольно-измерительная аппаратура электронной промышленности на основе фазового ядра : Теория и практика построения | Никонов, Александр Васильевич | 1999 |