Методы и средства инфракрасной оптической дефектоскопии диэлектрических материалов
- Автор:
Кортес Хосе Итало
- Шифр специальности:
05.02.11
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
178 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование методов радиографического контроля глубины дефектов сварных соединений | Круглова, Екатерина Владимировна | 2006 |
| Разработка помехоустойчивых методов и средств многофункциональной ультразвуковой дефектоскопии сложноструктурных изделий | Соколов, Игорь Вячеславович | 2007 |