Методы и средства инфракрасной оптической дефектоскопии диэлектрических материалов
- Автор:
Кортес Хосе Итало
- Шифр специальности:
05.02.11
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
178 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Алгоритмы расчетов и моделирования прямых и обратных задач магнитостатической дефектоскопии и устройств технической магнитостатики | Печенков, Александр Николаевич | 2007 |
| Методы стабилизации лазерных излучателей систем дистанционного контроля | Парахуда, Сергей Евгеньевич | 1999 |
| Тепловой метод неразрушающего контроля и диагностика строительных объектов | Лебедев, Олег Вадимович | 2004 |