Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 250 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск
Твердотельная электродиффузия ионов серебра и меди в стекла систем TeO2-WO3-La2O3-Na2O и Ge-Ga-Sb-S
  • Автор:

    Степанов, Борис Сергеевич

  • Шифр специальности:

    02.00.04

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2012

  • Место защиты:

    Нижний Новгород

  • Количество страниц:

    113 с. : ил.

  • Стоимость:

    250 руб.

Страницы оглавления работы

Содержание.
Введение
Г лава I. Литературный обзор
1.1 Структура и свойства стекол. Общие положения
1.2Структура и свойства стекол системы ТеСЬОз
1.3 Структура и свойства халькогенидных стекол
1.4 Основные методы изготовления волноводных структур
1.5 Математический аппарат диффузии
1.5.1 Частные случаи вынужденной диффузии
1.5.2 Метод Матано-Больцмана
Глава 2. Методика проведения эксперимента. Твердотельная электродиффузия ионов серебра в стекло системы (}е-Са-8Ь
2.1 Методика проведения эксперимента
2.2 Эллипсометрические измерения
2.3 Вторичная ионная масс-спектроскопия (ВИМС)
2.4 Твердотельная электродиффузия ионов серебра в стекло системы Ое-Са-БЬ-З
2.4.1 Концентрационные профили ионов серебра
в стекле Ое2оСа58Ь]о8б5 после ТТЭД ионов серебра
2.4.2 Тонкопленочная модель (1»2И)
2.4.3 Модель вынужденной диффузии из слоя
конечной толщины (/ ~ 2И)
2.4.4 Температурная зависимость коэффициента электродиффузии и скорость дрейфа ионов серебра после ТТЭД в стекло СегоОазЯЬюБ
2.4.5 Влияние ТТЭД ионов серебра на показатель преломления в диффузионном слое стекла Ое2оОа58Ь1о8б5
2.4.6 Люминесцентные свойства стекла Ое2оОа58Ью865 легированного ионами Бу3"1" и профиль распределения показателя преломления по глубине после ТТЭД ионов серебра
Глава 3.Твердотельная электродиффузия ионов
серебра и меди в стекло системы ТеСЬ-Юз-ГагОз-ШгО
3.1 Твердотельная электродиффузия ионов серебра в стекло
системы ТеОгОз-ЬагОз-НагО
3.1.1 Концентрационные профили ионов серебра в стекле (ТеО2)б0Оз)25(Ьа2Оз)5(Ка2О)10 после ТТЭД
3.1.2 Концентрационная зависимость коэффициентов термически активированной диффузии для Ац1. Метод Матано-Больцмана в параметрическом виде
3.1.3. Твердотельная электродиффузия (ТТЭД) ионов серебра
в стекло (ТеО2)б0Оз)25(Та2Оз)5(Ма2О)10
3.1.4 Температурная зависимость коэффициентов электродиффузии ионов серебра в стеклах (ТеОгГоОэДбСТагОзДСЛагОДо
3.1.5 Количественное определение поверхностной концентрации
ионов серебра в стекле (ТеОгоОзДзСЬагОзДагОДо после ТТЭД
3.1.6. Профиль распределения показателя преломления
по глубине в стекле (ТеО2)б0Оз)25(Ьа2Оз)5(Па2О)10
3.2 Твердотельная электродиффузия ионов меди в стекло
системы ТеОг-/Оз-ЬагОз-ЫагО
3.2.1 Концентрационные профили ионов меди в стекле (ТеО2)60Оз)25(Ьа2Оз)5(№2О)ш после ТТЭД
3.2.2 Расчет коэффициентов ТТЭД ионов меди в стекле состава (ТеО2)60Оз)25(Ьа2Оз)5(Ыа2О)10
Заключение
Выводы
Список литературы
Экспериментальные данные, полученные при исследовании ионной проводимости и диффузии в полярных кристаллах, показали, что в ряде случаев соотношение Эйнштейна — Нернста не выполняется. Авторы работ [48,49] наблюдали, что величина коэффициента диффузии, непосредственно измеренного с помощью радиоактивных изотопов, была меньше вычисленной из проводимости по уравнению Эйнштейна — Нернста.
В геометрически простых случаях, например для миграции междоузельных атомов, соотношение Эйнштейна - Нернста выполняется точно; однако во многих случаях ион, который только что покинул узел решетки, имеет большую вероятность вернуться к тому же, теперь вакантному узлу, чем уйти в какой-нибудь другой соседний узел. Чтобы учесть это обстоятельство, в правую часть уравнения (1.8) вводится корреляционный множитель, меньший единицы; некоторые переходы не дают вклада в диффузию, но, естественно, дают вклад в проводимость.
d(1.9) M{zef У ’
где /- корреляционный множитель.
Величина корреляционного множителя зависит от геометрии решетки и механизма диффузии. Результаты совместного исследования электропроводности и диффузии в щелочных стеклах, показали, что при вакансионном и эстафетном механизме движения, величина корреляционного множителя равна 0,3 - 0,5, а при междоузельном равна 1,0.
Исследование процессов диффузии и электропроводности в различных стеклах позволило выявить определенные закономерности для определения значений корреляционного множителя.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.125, запросов: 962