Прецизионные измерения контура спектральной линии методами диодной лазерной спектроскопии
- Автор:
Понуровский, Яков Яковлевич
- Шифр специальности:
01.04.21
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
106 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Лазеры с высокой средней мощностью на основе Yb:YAG элементов перспективных геометрий | Кузнецов, Иван Игоревич | 2016 |
| Нано- и микроструктурирование поверхности металлов и полупроводников в воздухе при воздействии фемтосекундных лазерных импульсов | Макаров, Сергей Владимирович | 2014 |
| Взаимодействие лазерного излучения с алмазными пленками | Пименов, Сергей Максимович | 2000 |