Структурно-компенсационный фактор радиационной стойкости высокоглиноземистых керамических диэлектриков

• Автор: Астапова, Елена Степановна
• Шифр специальности: 01.04.10
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Благовещенск
• Количество страниц: 300 с. : ил.

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
1. СОСТАВ И СТРУКТУРА КЕРАМИЧЕСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ
1.1. Состав и классификационные признаки керамики
1.1.1. Фазово-минералогический состав
1.1.2. Химический состав
1.2. Текстура высокоглиноземистых
керамических диэлектриков
1.3. Структура кристаллофаз керамики
1.3.1. Структура корунда - основной кристаллофазы
1.3.2. Структура магнезиальной шпинели
1.3.3. Структура кварца
1.4. Структура оксидных стекол
1.4.1. Кварцевое стекло
1.4.2. Алюмосиликатные стекла
1.4.3. Боратные стекла
2. РАДИАЦИОННЫЕ ЭФФЕКТЫ В ОКСИДАХ И В КЕРАМИКЕ
2.1. Дефекты структуры в керамических диэлектриках
2.2. Воздействие нейтронного облучения на чистые оксиды и кристаллофазы высокоглиноземистой керамики
2.3. Влияние нейтронного облучения на конструкционные свойства оксидов и оксидной керамики
2.3.1. Механические свойства
2.3.2. Электрофизические свойства
2.3.3. Дилатометрические свойства
2.3.4. Структурные изменения
2.3.5. Влияние структурных параметров
на прочностные свойства керамики

2.4. Полиморфные превращения
2.5. Компенсационный эффект и его роль
в повышении радиационной стойкости
3. МЕТОДИКА ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРНЫХ
И СУБСТРУКТУРНЫХ РАДИАЦИОННЫХ ИЗМЕНЕНИЙ МЕТОДАМИ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ И ИК-СПЕКТРОСКОПИИ
3.1. Исследование радиационностимулированных структурных изменений методами инфракрасной спектроскопии и рентгенофазового анализа
3.2. Методика определения напряжений I рода
3.3. Методы восстановления истинной формы рентгеновской
линии и определения параметров субструктуры
3.3.1. Экспериментальная методика определения размеров
блоков и микродеформаций облученной керамики
3.3.1.1. Метод аппроксимации
3.3.1.2. Гармонический анализ формы рентгеновской линии
3.4. Микроскопический метод определения упругих характеристик твердых тел
3.5. Возможности рентгеновского метода анализа диффузного рассеяния в сильноискаженных материалах
3.5.1. Анализ диффузного рассеяния рентгеновских лучей на радиационных повреждениях кристаллофаз керамики
3.6. Влияние дефектов субструктуры на электрофизические и механические свойства корунда
4. ИССЛЕДОВАНИЕ КЕРАМИЧЕСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ МЕТОДАМИ ИК-СПЕКТРОСКОПИИ И РЕНТГЕНОГРАФИИ

4.3. УФ
4.4.22ХС

4.6.СК
5. ИССЛЕДОВАНИЕ ОБЛУЧЕННЫХ КЕРАМИЧЕСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ МЕТОДАМИ РЕНГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ
5.1. Определение напряжений I рода
5.2. Определение параметров ячейки кристаллофаз керамики с учетом диффузного рассеяния
5.2.1. Съемка образцов. Восстановление истинной формы рентгеновского профиля линий облученной керамики
5.2.2. Определение параметров ячейки основных кристаллофаз облученной керамики с учетом диффузного рассеяния рентгеновских лучей
5.3. Определение субструктурныххарактеристик основной кристаллофазы облученной керамики
5.3.1. Выбор кристаллографических направлений с одинаковыми упругими свойствами
5.3.2. Определение субструктурных характеристик
5.4. Исследование диффузного рассеяния рентгеновских лучей на радиационных дефектах основных кристаллофаз
керамики
5.5. Зависимость прочностных свойств
от дефектов субструктуры
5.6. Радиационностимулированный а - у - переход А1202
5.7. Флуктуации напряжений в облученной керамике
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

и косвенно, концентрируясь у границ кристаллов и дислокаций и увеличивая тем самым роль этих дефектов [107].
Согласно [105, 169] керамические материалы представляют собой конгломераты беспорядочно расположенных кристаллитов, называемых зернами. Величина зерна в керамике - один из основных показателей, определяющих ее свойства. Согласно концепции Дэвиджа и Грина [146, 267] большой размер диспергированных частиц приводит к значительно большим размерам трещин. Кроме того, при приложении нагрузки к материалу трещины сначала будут образовываться у частиц с большим размером. Следовательно, увеличение размера зерен в композиционных материалах неизбежно ведет к потере механической прочности.
При таких явлениях как диффузия, теплопроводность, электропроводность и пластическая деформация границы зерен в поликристал-лическом теле ведут себя не так, как кристаллы [304]. Поэтому наличие границ зерен также оказывает большое влияние на свойства керамики. Электро- и теплопроводность у поликристаллических тел обычно ниже, чем у монокристаллов. Границы зерен препятствуют движению дислокаций, поэтому пластическая деформация подавляется [141]. По этой же причине поликристаллические тела имеют большую твердость, чем монокристаллы [112].
Особое внимание в радиационной физике пластичности кристаллических диэлектриков уделено изучению взаимодействия радиационных дефектов с дислокациями [49, 153,47]. При низко-энергетическом электронном облучении ионных кристаллов точечные дефекты и их комплексы являются новыми центрами закрепления дислокаций и значительно влияют на микропластичность [48].