Рентгенографический анализ кристаллических структур и их несовершенств при неразрешающихся дифракционных мультиплетах
- Автор:
Ткачев, Сергей Петрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1997
- Место защиты:
Самара
- Количество страниц:
339 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Структурно-чувствительные нелинейные оптические свойства поликристаллических и аморфных слоев оксидов и халькогенидов переходных металлов при фазовом переходе "металл-полупроводник" и их применение | Тимофеева, Ирина Олеговна | 2002 |
| Механизм,кинетика образования и выращивание нелинейных кристаллов для оптоэлектроники. | Кидяров, Борис Иванович | 2011 |
| Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии | Федоров, Алексей Алексеевич | 2002 |