Рентгенографический анализ кристаллических структур и их несовершенств при неразрешающихся дифракционных мультиплетах
- Автор:
Ткачев, Сергей Петрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1997
- Место защиты:
Самара
- Количество страниц:
339 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Структура и диэлектрические свойства наночастиц BaTiO3 с модифицированной поверхностью и композитного материала на их основе | Емельянов, Никита Александрович | 2015 |
| Дефекты структуры в пленках CdxHg1-xTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии | Сабинина, Ирина Викторовна | 2006 |
| Радиационно-оптические и эмиссионные свойства широкозонных анионодефектных оксидов с пониженной симметрией | Сюрдо, Александр Иванович | 2007 |