Рентгенографический анализ кристаллических структур и их несовершенств при неразрешающихся дифракционных мультиплетах
- Автор:
Ткачев, Сергей Петрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1997
- Место защиты:
Самара
- Количество страниц:
339 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрически детектируемый электронный парамагнитный резонанс точечных центров в полупроводниковых наноструктурах | Гец, Дмитрий Станиславович | 2013 |
| Атомное и электронное строение нанокомпозитов металл-диэлектрик (Co41Fe39B20)x(SiO2)1-x и (Co45Fe45Zr10)x(SiO2)1-x | Сторожилов, Сергей Анатольевич | 2008 |
| Дефектообразование и массоперенос в ионных структурах при интенсивном облучении ионизирующей радиацией | Анненков, Юрий Михайлович | 2002 |