Рентгенографический анализ кристаллических структур и их несовершенств при неразрешающихся дифракционных мультиплетах

• Автор: Ткачев, Сергей Петрович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 1997
• Место защиты: Самара
• Количество страниц: 339 с. : ил.

ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ РАЗРАБОТКИ И ЭКСПЛУАТАЦИИ НЕФТЕПРОМЫСЛОВЫХ ТРУБ
На правах рукописи УДК 539.261 56:785.72(043.3)
ТКАЧЕВ СЕРГЕЙ ПЕТРОВИЧ
РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР И ИХ НЕСОВЕРШЕНСТВ ПРИ НЕРАЗРЕШАЩИХСЯ ДИФРАКЦИОННЫХ
МУЛЪТЙПЛЕТАХ
01.04.07 - "Физика твердого тела"
Диссертация
на соискание ученой степени доктора физико-математических наук
Автор
Самара - 1997 г
ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. РЄКТГЄКО'ГрафКчсЮКИ0 мех ОДЫ КССЛвДОВЗНйЯ
кристаллических структур и их несовершенств при неразрешающихся дифракционных мультиплетах
1.1. Исследование кристаллических структур при
наложении дифракционных отражений
1.2. Метод центроидов
1.2.1. Тетрагональная сингония
1.2.2. Возможности гармонического анализа при разделении неразрешающихся дифракционных дублетов
1.2.3. Графический метод определения степени
тетрагональ ности
1.2.4. Определение межсинглетных расстояний тетрагональных дублетов
1.3. Выделение профилей синглетов из тетрагональных мультиплетов
1.3.1. Аналитический метод разделения тетрагональных дублетов
1.3.2. Графоаналитический метод
1.4. Двухфазный распад мартенсита
1.5. Ромбическая сингония
1.6. Аппроксимационное разделение произвольных
мультиплетов
Выводы
ГЛАВА 2. Погрешности дифрактометрических измерений
2.1. Случайные погрешности рентгеновской дифрактометрии
2.2. Оптимальное планирование эксперимента при определении интегральных интенсивностей и
ширины рентгеновских линий

2.3. Определение эксцентриситета гониометра и смещения
нуля счетчика
2.4. Рентгеновская тензометрия
2.5. Выбор рабочей линии при определении размеров
элементарных ячеек и напряжений
Выводы
ГЛАВА 3. Проблема отпускной хрупкости сталей и сплавов
на основе железа
3.1. Особенности проявлениия и основные гипотезы о
природе отпускной хрупкости
3.2. Кинетика карбидных выделений
3.3. Физическая природа разрушениия металлов
3.4. Механические и структурные характеристики, чувствительные к развитию отпускной хрупкости
3.5. Характеристика объектов исследования и режимов термообработки
3.6. Влияние режимов отпуска на механические свойства исследуемых сталей
3.6.1. Испытания на ударную вязкость
3.6.2. Результаты измерения твердости
3.7. Эшектронномикроскопические исследования
3.8. Рентгенографические исследования
3.8.1. Результаты аппроксимационного определения параметров тонкой кристаллической структуры
3.8.2. Результаты ГАФРЛ
3.8.3. Влияние режимов термического воздействия на особенности кристаллической структуры и фазовый состав исследуемых сплавов
3.8.4. Рентгенографическое определение смещений атомов кристаллической решетки из положений равновесий

1.2.3. Графический метод определения степени тетрагональ ности.
Задача упрощается, если требуется определить только отношение параметров с/а. Наиболее просто и с достаточной точностью степень тетрагональности определяется по смещению центра тяжести линии (222) [46,47] или какой-либо другой [483 по отношению к эталону.
Преимущество линии (222) заключается в том, что она не разделяется за счет тетрагональности на дублет. Поэтому аналитическое выражение Д*> = Г (с/а) для линии (222) имеет наиболее простой вид [473. Здесь Д|> - расстояние между центрами тяжести отражений от эталона - отожженного образца с полностью распавшимся мартенситом, и мартенситного образца, степень тетрагональ ности которого определяется.
Существенный недостаток расчетов с применением отражения (222) заключается в том, что регистрация линии осуществляется в СиКй и СоКЗ излучениях. Обязательное применение монохроматора при этом значительно снижает и без того слабую интенсивность линии, что требует сканирования профиля с длительной, до 200 секунд [47], экспозицией в каждой точке.
Но с ростом тетрагональности происходит смещение всех линий дифракционного спектра. Следовательно, для графического определения с/а можно использовать те линии, разрешающая способность которых удовлетворяет требованиям задачи, а регистрация осуществляется с меньшей экспозицией [493.
Для построения графика М=Г (с/а) определяется центр тяжести линии эталона 0(Ьк1)эт и рассчитывается параметр кубической структуры эталона ао. По формулам Курдюмова а! = ао - 0.015р и С1=ао+0.118р находятся параметры элементарной ячейки тетраго-