+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:10
На сумму: 4.990 руб.

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Электронный парамагнитный резонанс дефектов с глубокими уровнями в широкозонных полупроводниках: карбиде кремния и нитриде галлия

  • Автор:

    Ильин, Иван Владимирович

  • Шифр специальности:

    01.04.07

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    1998

  • Место защиты:

    Санкт-Петербург

  • Количество страниц:

    98 с. : ил.

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы


СОДЕРЖАНИЕ
Введение
I. Радиоспектрскопические исследования примесей в широкозонных полупроводниках (обзор литературы)
1.1. Акцепторы элементов III группы в ЖС
1.1.1. Мелкие акцепторы бора
1.1.2. Мелкие акцепторы алюминия
1.1.3. Мелкие акцепторы галлия
1.1.4. Глубокие акцепторы III группы
1.1.5. Акцепторы бериллия
1.1.6. Акцепторы скандия
1.2. Переходные элементы в 67 С
1.3. Редкоземельные примеси в 67С
1.4. Радиоспектроскопические исследования СаЫ
1.5. Цели работы
II. Приготовление образцов и методика эксперимента
III. ЭПР акцепторов III группы с глубокими уровнями в карбиде кремния
3.1. Глубокие акцепторы бора
3.3.1. Гексагональный кристалл бН-БЮ
3.3.2. Гексагональный кристалл 4Н-81С
3.3.3. Кубический кристалл ЗС-67С
3.2. Глубокие акцепторы галлия в 6Я-5/С
3.3. Глубокие акцепторы алюминия в 611-81 С
3.4. Модели глубоких акцепторов в >57С
IV. ЭПР эрбия в карбиде кремния
4.1. Низкосимметричные центры Е+
4.2. Аксиальные центры в 6Н-8гС:Ег

4.3 Обсуждение результатов и выводы
4.3.1. Величины -факторов
4.3.2. СТ структура спектров
4.3.3. Модели центров Ег в бН-БіС
V. ЭПР переходных элементов Мп и М в ОаЧ'
5.1. Мп2+ в (7аЖ
5.2. М3+ в СяЖ
5.3. Обсуждение результатов и выводы
Заключение
Литература

Введение
Настоящая работа посвящена изучению электронного парамагнитного резонанса примесей в широкозонных полупроводниках -карбиде кремния (5/С) и нитриде галлия (СаМ).
Широкозонные полупроводники с большой энергией химической связи являются одними из самых перспективных материалов опто- и микроэлектроники, а также электроники высоких частот и мощностей.
Карбид кремния - экологически чистый материал с огромными потенциальными возможностями для создания микроэлектронных приборов, работающих в экстремальных условиях (радиация, высокие температуры, агрессивные среды). В последние годы достигнут впечатляющий прогресс в изготовлении пластин Л'С диаметром до 75 мм.
Нитрид галлия, являясь прямозонным полупроводником, находит все большее применение при изготовлении коротковолновых светодиодов и лазеров. Технология выращивания нитрида галлия и изготовления приборов на его основе быстро прогрессирует вот уже несколько лет. Примером может служить изготовление фирмой “МсЫа” голубого лазера, имеющего ресурс работы в постоянном режиме более тысячи часов. Появление промышленных оптоэлектронных приборов, работающих в голубой области спектра, уже привело к созданию белых светодиодов. Такие светодиоды находят широкое применение для изготовления источников света, от которых требуется повышенная надежность и срок службы. В ближайшем будущем на основе этого материала ожидаются революционные изменения в технике записи информации. Кроме того, эти материалы перспективны для создания УФ фотоприемников, целой гаммы высокотемпературных (более 600°С) и СВЧ-приборов.
Несмотря на впечатляющий прогресс в технологии широкозонных полупроводников, существует много нерешенных проблем. В случае Оа1Ч до сих пор отсутствовали подложки, пригодные для эпитаксиального роста. Несоответствие решеток подложки и пленки способствовало введению напряжений и дефектов, что препятствовало росту эпитаксиальных слоев. Проблема состоит в получении толстых слоев

Magnetic field (mT)
Рис. 5. Температурная зависимость спектров ЭПР глубокого бора в кристалле 4Н-8іС:"В при В || с. Стрелками отмечены положения линий глубокого бора в квазикубической (к) и гексагональной (И) позициях. Линия в высоких полях принадлежит компоненте СТ структуры азота.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.183, запросов: 1126