Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
- Автор:
Окунев, Алексей Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
457 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста», автор — Окунев, Алексей Олегович, относится к типу: докторская диссертация по специальности 01.04.01. Работа подготовлена в городе Великий Новгород в 2008 году. Объем работы: 457 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004481496. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оценка параметров пассивного акустического термотомографа | Бограчев, Константин Маркович | 2000 |
| Автоматизированный крутильный маятник для динамического механического анализа полимерных композиционных материалов | Филистович, Денис Владимирович | 2003 |
| Регистрация мюонов на глубоководном нейтринном телескопе Baikal-GVD | Аврорин, Александр Дмитриевич | 2016 |