Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
- Автор:
Окунев, Алексей Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
457 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Развитие метода рентгеноэлектронной спектроскопии для исследования термоструктурных превращений и релаксационных процессов на поверхности расплавов Ni-P | Сапожников, Геннадий Вячеславович | 2006 |
| Источники нейтронов на базе ускорителей для задач нейтронной и нейтронозахватной терапии | Кононов, Олег Евгеньевич | 2010 |
| Когерентные и некогерентные лидарные методы зондирования атмосферной турбулентности | Шелехов, Александр Петрович | 2010 |