Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
- Автор:
Окунев, Алексей Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
457 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка источника мюонов и детекторной системы для поиска редких мюонных процессов | Джилкибаев, Рашид Максудович | 2012 |
| Физические принципы метода измерения трехмерных координат изображений объектов в реальном времени | Шутеев, Сергей Александрович | 2005 |
| Комплексная методика исследования полупроводниковых кремниевых детекторов и их применение в физике высоких энергий | Кушпиль, Василий Валентинович | 2001 |