Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
- Автор:
Окунев, Алексей Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
457 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Методы и средства измерений скорости и температуры частиц в быстропротекающих процессах напыления порошковых покрытий | Соловьев, Андрей Александрович | 2010 |
| Диагностика динамики тепловых явлений в процессах самораспространяющегося высокотемпературного синтеза | Азиз Зияд Гази | 2000 |
| Количественный анализ в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов в кремнии и железо-кремниевых структурах | Александрова, Галина Алексеевна | 2008 |