Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
- Автор:
Окунев, Алексей Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
457 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Лазерные и оптические спектрометры для разработки и контроля наукоемких технологий : Диагностика газовых, жидких, твердых, ультрадисперсных сред и живых тканей | Вовк, Сергей Мирославович | 1999 |
| Многофункциональный прибор для исследования показателей деградации оптических элементов конструкции космического аппарата в условиях воздействия потоков микрометеороидов и космического мусора | Калаев, Михаил Павлович | 2012 |
| Теплоэлектрофизические характеристики термоэмиссионных электрогенерирующих систем для ядерных энергетических установок нового поколения | Лазаренко, Денис Георгиевич | 2009 |