Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста
- Автор:
Окунев, Алексей Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
457 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста», автор — Окунев, Алексей Олегович, относится к типу: докторская диссертация по специальности 01.04.01. Работа подготовлена в городе Великий Новгород в 2008 году. Объем работы: 457 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004481496. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование несовершенств структуры и разработка нейтронных поляризующих суперзеркал CoFe(V)TiZr | Плешанов, Николай Константинович | 2007 |
| Применение метода рентгеноэлектронной спектроскопии для исследования спинового магнитного момента атомов в системах на основе железа | Ломова, Наталья Валентиновна | 2007 |
| Слабые адронные нейтральные токи во взаимодействиях антинейтрино высоких энергий | Шекелян, В.И. | 1984 |