Исследование релаксации редкоземельных ионов в стеклах методом электронного спинового эха

• Автор: Эпель, Борис Меерович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Казань
• Количество страниц: 98 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА. ОБРАЗЦЫ
1.1. Методика эксперимента
1.2. Техника эксперимента
1.3. Измерительный резонатор
1.4. Образцы
ГЛАВА 2. МИКРОВОЛНОВАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ИОНОВ ТЬ3+ В СТЕКЛАХ МЕТОДАМИ ЭПР И ЭЛЕКТРОННОГО СПИНОВОГО ЭХА
2.1. Спин-гамильтониан ионов ТЬ3+
2.2. Распределение параметра начального расщепления А
2.3. Спектры ЭСЭ-детектируемого ЭПР. Зависимость Тм от магнитного поля38
2.4. Выводы
ГЛАВА 3 . ЭЛЕКТРОННАЯ РЕЛАКСАЦИЯ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫХ ИОНОВ В СТЕКЛАХ
3.1. Спектры ЭСЭ-детектируемого ЭПР ионов УЬ3+, Ш3+ и ТЬ3+ в фосфатном и силикатном стеклах
3.2. Исследование спин-решеточной релаксации редкоземельных ионов
3.2.1. Спин-решеточная релаксация ионов УЪ3+
3.2.2. Спин-решеточная релаксация ионов Ш3+
3.2.3. Спин-решеточная релаксация ионов ТЬ3+
3.3. Обсуждение результатов
3.3.1. Римановский процесс релаксации
3.3.2. Резонансный релаксационный процесс. Зависимость типа А
3.3.3. Зависимость СРР от размера образца
3.3.4. Нерезонансный релаксационыый процесс. Зависимость типа Б
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
ПРИЛОЖЕНИЕ

СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ И УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ
БЦ - быстрорелаксирующий центр РЗИ - редкоземельные ионы СВЧ - сверхвысокая частота СРР - спин-решеточная релаксация
ЭДЭПР, спектр - спектры ЭПР записанные при помощи ЭСЭ
ЭПР - электронный парамагнитный резонанс
ЭСЭ - электронное спиновое эхо
ЯМР - ядерный магнитный резонанс
И, Ті=М2к - постоянная Планка
Р - магнетон Бора
Уе - гиромагнитное отношение электрона
А - параметр начального расщепления
ё - фактор спектроскопического расщепления
к - постоянная Больцмана
А - постоянная сверхтонкой структуры
Ъ - переменное магнитное поле
В - постоянное магнитное поле
I - ядерный спин
А - эффективный электронный спин
0.0 0.2 0.4 0.6 0
в, Т
Рис. 2.6. Спектры ЭПР ионов ТЬ3+ в БИВЬ (верхний спектр на каждом рисунке) и РЬ (нижний спектр на каждом рисунке) стеклах при некоторых значениях рабочей частоты. Сплошная линия - экспериментальные данные. Точки -спектры рассчитанные по формуле ( 9 ) ст=0.35 и 0.1 для БЫВЬ и РТ соответственно, До ~ЮГТц, В' ~ 0.12 Т.