Доменные структуры в кристаллах и пленках YBa2 Cu3 O7-x и EuBa2 Cu3 O7-x

• Автор: Бдикин, Игорь Кузьмич
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Черноголовка
• Количество страниц: 134 с. : ил.

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
Глава 1. ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР
1.1. Семейство 1-2-3 ВТСП оксидов: особенности строения
1.2. Двойникование 1-2-3 ВТСП оксидов
1.3. Влияние двойниковой структуры на физические свойства
1-2-3 ВТСП оксидов кристаллов и пленок
1.4. Протяженные двойниковые границы в сегнетоэлектриках
1.5. Нецентросимметричность в перовскитах
1.6. Выводы литературного обзора и постановка задачи
Глава 2. АППАРАТУРА И МЕТОДИКА РЕНТГЕНОВСКИХ
ИССЛЕДОВАНИЙ
2.1. Приготовление образцов для исследования
2.2. Рентгендифрактометрия монокристаллов
2.2.1. Рентгендифрактометрия монокристаллов в асимметричной геометрии
2.3. Методы рентгеновской топографии
2.3.1. Сканирование по
2.3.2. Сканирование по
2.3.3. Асимметричные схемы топографии сканирования 0 и
2.4. Основные выводы по методической части
Глава 3. СТРУКТУРА ДВОЙНИКОВЫХ ГРАНИЦ, ГРАНИЦ
ДОМЕНОВ МНОГОФАЗНЫХ КРИСТАЛЛОВ И ОСОБЕННОСТИ ДВОЙНИКОВАНИЯ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ ПЛЕНОК УВа2Сиз07гХ
3.1. Структура двойниковой границы в кристаллах УВагСизОу.х
3.2. Структура межфазовой границы в кристаллах УВа2Сиз07.х, отожженных в иоде
3.3. Двойниковая структура пленок УВагСизОу.х на ИаОаОз
3.4. Двойникование ЬаОаОз
3.5. Двойниковая структура пленок УВа2Сиз07_х на А120з с буферным слоем Се02
3.6. Заключение по главе
Глава 4. ДИНАМИЧЕСКИЕ ДИФРАКЦИОННЫЕ ЭФФЕКТЫ В КРИСТАЛЛАХ ВТСП
4.1. Аномальное прохождение рентгеновских лучей в кристаллах ВТСП
4.2. Рентгеновская динамическая топография кристаллов ЕиВа2Сиз07-х
4.3. Заключение по главе
ВЫВОДЫ
ЛИТЕРАТУРА
ВВЕДЕНИЕ
Актуальность темы. Интерес к высокотемпературной
сверхпроводимости (ВТСП) вызвал интенсивные структурные
исследования семейства сложных оксидов. Детальный анализ физических и структурных свойств ВТСП материалов показал важную роль изучения
реальной структуры. Это относится к детальной расшифровке
кристаллической структуры, исследованию анизотропных свойств, изучению влияния дефектности, двойниковых границ, границ зерен и блоков на сверхпроводящие свойства и критические параметры.
Реальная структура кристаллов УВагСизОу.х - наиболее исследованного представителя класса ВТСП материалов характеризуется развитым доменным строением, обусловленным двойникованием в результате фазовых превращений и структурных перестроек. Точные значения параметров ориентации двойниковых компонент зависят от кристаллической структуры вещества, что в особенности важно для конкретных элементов сверхпроводящих устройств и пленочных систем.
Систематическое исследование двойниковой структуры объекта, наряду со знанием кристаллической структуры, является актуальным для интерпретации оптических, магнитных, электрических, механических и других структурно чувствительных свойств. Вместе с тем актуальность темы диссертационной работы определяется практическим использовании ВТСП материалов, требующим также определения, управления формированием и прогнозирования двойниковых структур.
Цель работы. Определение характеристик двойниковых структур и границ между двойниковыми доменами методами рентгеновской топографии и рентгеновской дифрактометрии в кинематическом и
Рис.2.1. Схема участка обратного пространства.