Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел
- Автор:
Вайнштейн, Дмитрий Львович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
92 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел», автор — Вайнштейн, Дмитрий Львович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Москва в 2000 году. Объем работы: 92 с. : ил.. Внутренний код товара: 01000279276. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние многоэлектронных корреляций на процесс рентгеновского поглощения в области K и L краев | Демёхина, Нелли Владимировна | 2000 |
| Структурно-фазовые характеристики интерметаллида NiAl вблизи эквиатомного состава | Чаплыгин, Павел Александрович | 2018 |
| Влияние размеров частиц на оптические свойства и радиационную стойкость люминофоров и пигментов светоотражающих покрытий | Власов, Виталий Анатольевич | 2001 |