Анализ протяженной тонкой структуры спектров потерь энергии электронов (EELFS) для определения атомной структуры поверхности твердых тел
- Автор:
Вайнштейн, Дмитрий Львович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
92 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Взаимосвязь между микроскопическими взаимодействиями и макроскопическими свойствами некоторых соединений 3d-металлов | Хубиев, Рамазан Хамзатович | 2001 |
| Макроскопические флуктуации теплоты диссипации в переходных процессах при плавлении кристаллических веществ | Селезнев, Геннадий Данилович | 1998 |
| Электронная структура, магнитные и транспортные свойства нанолент графена на полупроводниковых подложках MeN(Me=B,Al) | Нгуен Ван Чыонг | 2015 |