Фликкер-шумовая спектроскопия в параметризации структуры поверхности твёрдофазных систем в нанометровом диапазоне на основе данных атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Мисуркин, Павел Игоревич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2012
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
94 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электронная микроскопия бикристаллов и пленок на бикристаллических и ступенчатых подложках | Роддатис, Владимир Владимирович | 1999 |
| Кулоновские корреляции и искажения кристаллической решетки, связанные с орбитальным и зарядовым упорядочением | Коротин, Дмитрий Михайлович | 2011 |
| Оптическое излучение из квантоворазмерных кремниевых p-n переходов | Кузьмин, Роман Владимирович | 2011 |