Визуализация атомного строения реакционно-способных межфазовых границ на начальных стадиях их формирования

• Автор: Валдайцев, Дмитрий Александрович
• Шифр специальности: 01.04.04
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2000
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 172 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
страница
ВВЕДЕНИЕ
Глава! ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ
§1.1 Дифракция электронов и структурный анализ
поверхности твердого тела
§1.2 Дифракция рентгеновских фото- и оже-электронов
§1.3 Дифракция квазиупруго рассеянных электронов средней
энергии
§1.4 Выводы из обзора и постановка задачи исследования
Глава II ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
§2.1 Экспериментальная установка
§2.2 Электронограф с микроканальным усилителем яркости
изображения
§2.3 Система регистрации дифракционных картин
§2.4 Настройка прибора и компьютерная обработка
изображений
Глава III ВИЗУАЛИЗАЦИЯ ПАССИВНЫХ И РЕАКЦИОННО-
СПОСОБНЫХ МЕЖФАЗОВЫХ ГРАНИЦ МЕТАЛЛ/КРЕМНИЙ
§3.1 Механизм формирования кикучи-полос в дифракционных
картинах кремния
§3.2 Визуализация атомного строения пленок серебра на
поверхности 81(100) 2x1

§3.3 Реактивная эпитаксия дисилицида кобальта на
поверхности Si(l 11)7x7
§3.4 Твердофазная эпитаксия дисилицида кобальта на
Si(ll 1)7x7
§3.5 Выводы
Глава IV ИНТЕРКАЛЯЦИЯ ДИХАЛЬКОГЕНИДОВ
ПЕРЕХОДНЫХ МЕТАЛЛОВ КАЛИЕМ
§4.1 Строение и свойства дихалькогенидов переходных
металлов
§4.2 Исследование атомной структуры приповерхностной
области V Se2(0001)
§4.3 Интеркаляция VSe2 калием
§4.4 Интеркаляция TiS2 калием
§4.5 Выводы
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ И ВЫВОДЫ
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ ПО ТЕМЕ ДИССЕРТАЦИИ

ВВЕДЕНИЕ
Актуальность темы исследования. Настоящая работа посвящена дальнейшему развитию нового метода визуализации атомного строения поверхности твердого тела, базирующегося на анализе картин дифракции отраженных электронов средней энергии. Становление данного метода относится к началу 90-х годов. В отличие от традиционных методов дифракции медленных и быстрых электронов, отображающих атомное строение поверхности в обратном пространстве, дифракционные картины электронов средней энергии дают изображение атомной структуры приповерхностной области твердого тела в реальном пространстве. Эта возможность была наглядно продемонстрирована в ряде работ на примере исследования монокристаллов металлов, полупроводников и диэлектриков. Специфика рассматриваемого метода обусловлена тем, что в его основе лежит эффект фокусировки отраженных электронов, приводящий к появлению в дифракционных картинах интенсивных максимумов, наблюдаемых вдоль направлений плотной упаковки кристаллов. Однако до сих пор с позиций этого эффекта не нашли своего объяснения такие важные особенности картин, как кикучи-полосы, которые отчетливо проявляются в случае кристаллов легких элементов.
При исследовании атомных процессов, протекающих в приповерхностной области твердого тела, большое значение имеет их изучение в режиме реального времени, что недоступно большинству существующих методов структурного анализа поверхности. Поэтому разработка метода визуализации, обладающего такими возможностями, является актуальной задачей физической электроники.
Важными объектами структурных исследований являются межфазовые границы контактирующих твердых тел. Поскольку они могут обладать