Микроскопика поверхности проводящих кристаллов в сильном электрическом поле
- Автор:
Голубев, Олег Лазаревич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
461 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Визуализация кристаллической структуры поверхности отраженными электронами | Пронин, Игорь Иванович | 2000 |
| Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии | Заблоцкий, Алексей Васильевич | 2009 |
| Теоретическое и экспериментальное обоснование лазерных методов диагностики акустического поля в жидкостях и газах | Расковская, Ирина Львовна | 2005 |