Методика нанооксидирования и травления поверхности n-InGaAs с помощью атомно-силового микроскопа
- Автор:
Соколов, Дмитрий Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
112 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Автоматизированный измерительно-вычислительный комплекс специализированного масс-спектрометра МТИ-350Г | Новиков, Дмитрий Васильевич | 2006 |
| Установка сканирующей зондовой микроскопии для микроскопии, спектроскопии и поляриметрии ближнего поля | Ежов, Александр Анатольевич | 2002 |
| Импульсный исследовательский реактор периодического действия: проблемы и решения | Шабалин, Евгений Павлович | 2004 |