+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Исследование процессов роста и растворения кристаллов методами атомно-силовой микроскопии

  • Автор:

    Пискунова, Наталья Николаевна

  • Шифр специальности:

    25.00.05

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2003

  • Место защиты:

    Сыктывкар

  • Количество страниц:

    156 с. : ил. + Прил. (2 CD)

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы

Глава 1. Глава 2. Проблема воздействия основных узлов АСМ на растущий кристалл и его окружение. Глава 3. Взаимодействие ступеней с препятствиями
8






3. Глава 4. СТАТИСТИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ ДИНАМИКИ ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ПРОЦЕССОВ НА ПОВЕРХНОСТИ РАСТУЩЕГО КРИСТАЛЛА. ЗАКЛЮЧЕНИЕ
0
ЛИТЕРАТУРА 8
или расплава в динамике, потому что исследования с их помощью проводятся в условиях высокого вакуума. Таким образом, среди методов, позволяющих проводить ростовые эксперименты, т. Однако, предоставляемые ими широкие возможности, накладывают серьезные ограничения на разрешающую способность. Необходимо различать разрешение, даваемое в плоскости, перпендикулярной поверхности кристалла по нормали, и латеральное в плоскости образца разрешение, которое представляет собой наименьший различимый на снимке линейный размер изображаемых объектов. В i i оптической интерферометрии разрешение в нормальной плоскости составляет единицы микрометров Волошин, Руднева и др. Ракин, , а предел для латерального разрешения составляет порядка 0 микрометров, что делает невозможной детализацию дислокационных источников и проч.


Л возможность обходиться без металлического запыления образца в атомносиловой и сканирующей туннельной микроскопии является одним из главных преимуществ перед просвечивающей и сканирующей электронной микроскопией. Атомносиловая микроскопия в исследовании кристаллов и процессов их роста. В настоящее время в мире в широком ассортименте выпускаются сканирующие зондовые микроскопы и принадлежности к ним. Не существует другой такой экспериментальной техники, которая позволяла бы получать изображения непроводящих поверхностей в газовой или жидкой среде с атомным или молекулярным разрешением. Однако применение для i i исследований роста кристаллов сталкивается с рядом проблем и ограничений. Поэтому, изучаются в основном объекты с большими молекулами, такие как белки, скорость роста которых невелика. Весьма невелик объем публикаций, касающихся i i роста или растворения в ячейке низкомолекулярных кристаллов с высокой растворимостью. Эксперименты x i могут предоставить ценную информацию, касающуюся последствий ростовых процессов. Первые публикации такого рода стали появляться в конце ых годов прошлого века . В кристтлогснетических исследованиях очевидно недостаточно получить сами СЗМобразы поверхности твердого тела. Важной задачей является корректная их интерпретация. В году, X. Эдвардс предлагает алгоритм вычисления по изображениям сканирующих зондовых микроскопов ступеней роста на поверхности кристаллов. Он позволяет корректировать ошибку в значении высоты, которая возникает изза нелинейности пьезоскансра.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.142, запросов: 962