Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС
- Автор:
Буздуган, Алексей Анатольевич
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
147 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методов управляемого формирования и исследование тонкопленочных опаловых наноструктур | Беседина, Ксения Николаевна | 2014 |
| Исследование наклонноконденсированных пленочных материалов для термоэлектрических преобразователей лазерного излучения | Опаричев, Александр Борисович | 2006 |
| Разработка оборудования для экспресс-анализа концентраций примесей в полупроводниковых материалах методом статической фурье-спектроскопии | Белаш, Александр Олегович | 2012 |