Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС
- Автор:
Буздуган, Алексей Анатольевич
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
147 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Формирование упорядоченных упаковок наносфер SiO2 и применение структур на их основе в функциональной электронике | Гурьянов, Андрей Валерьевич | 2003 |
| Выращивание плазменными методами пленок алмаза и родственных материалов (алмазоподобных, нитрида алюминия, оксида цинка) и применение многослойных структур на основе этих пленок в микро- и акустоэлектронике | Белянин, Алексей Федорович | 2002 |
| Исследование и разработка методов защиты поверхности кремниевых фотодиодов с применением ионной имплантации | Сорокин, Константин Викторович | 2000 |