Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС
- Автор:
Буздуган, Алексей Анатольевич
- Шифр специальности:
05.27.06
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
147 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование причин деградации и разработка подходов к повышению стабильности наноразмерных межсоединений СБИС», автор — Буздуган, Алексей Анатольевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.06. Работа подготовлена в городе Москва в 2008 году. Объем работы: 147 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004237886. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование гетероструктур InP/InGaAsP для систем волоконно-оптических линий связи и промышленной технологии их производства | Науменко, Наталья Васильевна | 2001 |
| Многокомпонентные висмутсодержащие твердые растворы А3 В5 , полученные в поле температурного градиента | Алфимова, Диана Леонидовна | 2000 |
| Получение лазерных гетероструктур InGaAs/AlGaAs/GaAs с несколькими p-n-переходами методом МОС-гидридной эпитаксии | Багаев, Тимур Анатольевич | 2013 |