Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур
- Автор:
Сеннов, Руслан Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
134 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оперативный диагностический контроль и мониторинг технического состояния силовых полупроводниковых приборов в преобразовательных агрегатах | Сухов, Александр Валерьевич | 2006 |
| Исследование и разработка конструктивно-технологических решений создания мощных ДМОП-транзисторов с оптимальной площадью при помощи средств приборно-технологического моделирования | Ключников, Алексей Сергеевич | 2007 |
| Молекулярно-лучевая эпитаксия низкоразмерных систем на основе гетероструктурных и δ-легированных квантовых ям на подложках GaAs различной ориентации | Галиев, Галиб Бариевич | 2003 |