Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур
- Автор:
Сеннов, Руслан Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
134 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка конструкции и технологии микрополосковых плат для бесфлюсовой сборки ГИС СВЧ с высокой воспроизводимостью параметров и надежностью изделий | Климачёв, Иван Иванович | 2004 |
| Брэгговская дифракция рентгеновского излучения на кристаллах, промодулированных поверхностными акустическими волнами | Иржак, Дмитрий Вадимович | 2002 |
| Проектирование умножителей частоты гармонических колебаний в субмикронном технологическом базисе | Шеховцов, Дмитрий Витальевич | 2013 |