Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур
- Автор:
Сеннов, Руслан Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
134 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Развитие методов микротомографии и определение средней энергии электронов, отраженных от многослойных микроструктур», автор — Сеннов, Руслан Александрович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.27.01. Работа подготовлена в городе Черноголовка в 2005 году. Объем работы: 134 с. : ил.. Внутренний код товара: 01002853844. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние структурных превращений на электрофизические свойства стекол электронной техники С87-2, С78-4, С78-5 | Шомахов, Замир Валериевич | 2012 |
| Оптические характеристики полимерных композиционных материалов с квантовыми точками для фотоэлектрических преобразователей и оптоэлектронных устройств хранения данных | Кульбацкий, Дмитрий Михайлович | 2009 |
| Разработка и исследование основ золь-гель технологий формирования диэлектрических пленок на основе оксида алюминия для органических полевых транзисторов | Луговой, Евгений Владимирович | 2013 |