Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения
- Автор:
Зебрев, Геннадий Иванович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование и разработка методов и средств проектирования микросистем высокой надежности | Блохина, Вероника Борисовна | 2001 |
| Исследование и разработка моделей быстродействующих микроэлектронных коммутаторов на основе туннельно-связанных квантовых областей | Аль-Саман Амгад Али Хасан | 2018 |
| Исследования однонаправленных и слабоаподизованных встречно-штыревых преобразователей поверхностных акустических волн и разработка устройств частотной селекции на их основе | Карапетьян, Геворк Яковлевич | 2011 |