Моделирование работы и процессов деградации МОП транзисторов, обусловленных воздействием ионизирующего излучения
- Автор:
Зебрев, Геннадий Иванович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование газового сенсора на основе тонкопленочных материалов состава SiO2SnOxAgOy | Назарова, Татьяна Николаевна | 2006 |
| Микромощные АЦП для многоканальных устройств сбора данных и систем на кристалле | Бутузов, Владимир Алексеевич | 2014 |
| Методы увеличения времени функционирования КМОП СБИС запоминающих устройств в составе бортовой аппаратуры космических аппаратов | Поливанов, Андрей Павлович | 2003 |