Комплексные исследования электрофизических свойств термически окисленных слоев кремния в производстве полупроводниковых приборов с проектной нормой 0,5-0,8 мкм
- Автор:
Дудников, Анатолий Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
113 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Физико-топологическое моделирование характеристик субмикронных полевых транзисторов на арсениде галлия с учетом радиационных эффектов | Оболенский, Сергей Владимирович | 2002 |
| Разработка методов проектирования элементов МОЭМС, изготавливаемых по технологии поверхностной микрообработки | Лысенко, Игорь Евгеньевич | 2002 |
| Отжиг электростатических дефектов полупроводниковых биполярных изделий | Литвиненко, Дарья Александровна | 2003 |