Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов
- Автор:
Адамян, Александр Гариивич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
96 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Высоковольтные полупроводниковые приборы с повышенным быстродействием | Гейфман, Евгений Моисеевич | 2000 |
| Близкопольная сканирующая зондовая микроскопия для формирования и измерения свойств наноразмерных структур | Душкин, Игорь Валерьевич | 2003 |
| Исследование закономерностей структурного роста и люминесцентных свойств слоев пористого кремния | Бучин, Эдуард Юрьевич | 1998 |