Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов
- Автор:
Адамян, Александр Гариивич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
96 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование закономерностей формирования и модификации волнообразного нанорельефа на кремнии и в тонких пленках на основе кристаллического и аморфного кремния | Журавлев, Иван Васильевич | 2004 |
| Исследование полупроводниковых наноструктур с массивами квантовых точек и металлических нанокластеров методами сканирующей зондовой микроскопии | Востоков, Николай Владимирович | 2004 |
| Методы моделирования СБИС с использованием полунатурной модели МОП-транзистора | Денисенко, Виктор Васильевич | 2010 |