Электрохимическое полирование сталей, легированных кремнием и марганцем

• Автор: Иващенко, Николай Иванович
• Шифр специальности: 05.17.03
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Днепропетровск
• Количество страниц: 182 c. : ил

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ

Глава I. ПОИСК ЧАСТОТНОГО РЕПЕРА В ОБЛАСТИ 2 нм

1.1.1 рсцизиониая спектроскопия водородоподобпых атомов

1.2. Лазерный спекфомегр в области 2 нм

1.3. Результаты исследования спектров линейного поглощения

ГЛАВА II.
ИССЛЕДОВАНИЕ СВЕРХТОНКОЙ СТРУКТУРЫ ЛИНИЙ ПОГЛОЩЕНИЯ, ВЫБОР И ИССЛЕДОВАНИЕ ЧАСТОТНОГО РЕПЕРА

2.1. Лазерный спектрометр насыщенного поглощения

2.2. Исследование сдвигов от давления в ячейке

ГЛАВА III.
ИЗМЕРЕНИЕ АБСОЛЮТНОГО ЗНАЧЕНИЯ ЧАСТОТЫ РЕПЕРА
3.1. Выбор схемы синтеза
3.2. Упрощенный вариант схемы синтеза и измерения в области 2 нм
3.3. Опорный стандарт частоты в области 5 нм на базе полупроводникового лазера
3.4. Опорный С лазер в области 9. мкм
3.5. Преобразователи частоты на нелинейных оптических кристаллах
3.5.1. Расчт углов синхронизма в одноосных кристаллах
3.5.2. Расчт эффективности преобразования кристалла при генерации разностной частоты для оптимально сфокусированного пучка
3.5.3. Расчт оптимального радиуса перетяжки пучка
3.6. Измерение частотного интервала в 8 ГГц
3.7. Измерение частоты репера
3.8. Исследование новых методов измерения оптических частот с целью повышения точности измерения
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Приложения
1 олупроводниковьш лазер в области 2 нм для прецизионной спектроскопии молекулярного йода
ЛИТЕРАТУРА


Излучение с длиной волны 4 нм, необходимое для наблюдения двухфотонного резонанса на переходе - создается за счет утроения частоты импульсного александритового лазера, генерирующего в области 2 нм. Александритовый лазер синхронизуется по частоте с помощью непрерывного стабильного титан сапфирового лазера. Для точной настройки частоты лазерного спектрометра на линию двухфотонного поглощения мюония, а также для точного измерения частоты - перехода необходим вторичный стандарт частоты в области генерации ТпБа лазера. В основе абсолютного измерения оптических частот лежит сравнение измеряемой частоты с частотой стандарта, либо с частотой синтезированной из частоты стандарта и, следовательно, известной с точностью стандарта. Синтез частот осуществляется посредством умножения частоты, т. При синтезе используются также операции сложения, вычитания и деления частот. В такой цепи более высокочастотный генератор привязан посредством автоматической фазовой подстройки к гармонике низкочастотного генератора. Таким образом, были синтезированы и измерены частоты лазерных стандартов в диапазоне мкм и 3 мкм. При измерении частот субмиллиметрового и среднего ПК диапазонов использовались в основном методы, разработанные для радиодиапазона. МОМ диодов и диодов Шоттки. В ближнем ИК и видимом диапазонах эти методы уже не работают. Для преобразования частоты необходимо использовать чисто оптические методы генерации гармоник, суммарных и разностных частот в нелинейных кристаллах. Эффективность преобразования в кристаллах существенно ниже, чем в диодах. Возможна генерация только второй гармоники и смешение только двух частот, что приводит к необходимости увеличения числа ступеней преобразования, а также количества промежуточных лазеров. Как видно, установки довольно громоздкие, сложные и дорогостоящие. Подобные установки имеются лишь в нескольких лабораториях мира и, несмотря на свою сложность, обеспечивают измерение лишь очень узкого интервала частот. Одной из серьезных проблем при измерении оптических частот является проблема измерения частотного интервала, разделяющего синтезированную частоту от измеряемой. Чем больше размер интервала, который может быть измерен, тем менее жесткие требования предъявляются к точности синтеза частот и тем проще может быть схема синтеза. В диссертационной работе решаются такие задачи как построение схемы синтеза и измерения, создание генератора разностной частоты на основе нелинейного оптического кристалла, создание вторичных опорных стандартов частоты, измерение частотного интервала, который разделяет синтезированную частоту от измеряемой. В первой главе содержится материал, посвященный исследованию спектров поглощения в области 2 нм. Для исследований выбран ряд молекул : , Вг2, Bi2, Sb2, IBr, ICI и одна многоатомная молекула, имеющая полосу поглощения в интересующей области (2 нм) CF3 NO. Описывается схема спектрометра линейного и на базе перестраиваемого Ti:Sa лазера. Во второй главе представлены результаты исследования спектра насыщенного поглощения линии R()5- молекулярного |. В качестве частотного репера был выбран компонент сверхтонкой структуры этой линии в области 2 нм, который может воспроизводить значение частоты в требуемом диапазоне с высокой точностью (К)' - '). Приводится оригинальная методика для исследования сдвигов частоты от давления в ячейке и представлены результаты измерений этих сдвигов. ЯЬ и СО2 стандарте в области 9. Подробно описаны вес элементы схемы. Представлены результаты абсолютного измерения оптической частоты найденного репера. Один из разделов главы диссертации посвящен повышению точности измерений найденного частотного репера. Для повышения точности измерений предлагается использовать синхронизованные моды Ті:8а лазера. В заключении приведены основные результаты диссертационной работы. В приложениях представлены эксперименты по исследованию генерации на полупроводниковых лазерах в области криогенных температур с целью создания полупроводникового лазера в области 2 нм. Исследование этого репера: сдвигов, уширения от давления. Стабилизация Ті:Ба лазера по найденному реперу. Измерение абсолютного значения частоты репера.