Совершенствование составов и технологии модифицирования алюминиевых сплавов на основе систем Al-Cu-Mg, Al-Zn-Mg-Cu и Al-Li

• Автор: Смирнов, Владимир Леонидович
• Шифр специальности: 05.16.04
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2009
• Место защиты: Екатеринбург
• Количество страниц: 178 с. : ил.

ОСНОВНЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ. Гомогенное зарождение кристаллов. Гетерогенное зарождение кристаллов . Влияние модифицирующих добавок на зарождение и рост кристаллов в алюминиевых сплавах. Механизмы модифицирования. Модифицирование добавками титана. Влияние легирующих и примесных элементов на процесс кристаллизации сплавов, на структуру и свойства отливок и слитков. Фронт кристаллизации. Температура начала линейной усадки. Скорость перемещения фронта кристаллизации и се влияние на структуру и свойства отливок и слитков. Обработка экспериментальных данных, полученных в режиме нагрева. Обработка экспериментальных данных, полученных в режиме охлаждения. Определение степени достоверности получаемых результатов. Стандартные методы исследования
2. ТЕРМИЧЕСКИЙ И МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ПРОМЫШЛЕННЫХ АЛЮМИНИЕВЫХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ А1СиМд. Микрорснтгсноспектральный анализ образцов от терм обработанной плиты из сплава . Обоснование подхода к совершенствованию составов сплавов. ТЕРМИЧЕСКИЙ И МИКРОРЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ АЛЮМИНИЕВЫХ СПЛАВОВ СИСТЕМЫ А1гпМдСи.


Фронт кристаллизации. Обработка экспериментальных данных, полученных в режиме нагрева. СИСТЕМЫ А1СиМд. АпМдСи. Влияние модифицирования на образование дефектов УЗК в штамповках из сплава

4. ТА термический анализ. МРСА микрорентгеноспектральный анализ. С.

5 н. Акр общий интервал кристаллизации, С. Афф эффективный интервал кристаллизации, С. МПа. МПа. КС вязкость разрушения, МПаЛ. С электропроводность плит, МСмм. Ап1УСи серия 7ххх и Л1Си1 серия 2ххх. А1СиМ и АпМСи. Шубникова 9,, В. Д. Кузнецова и
других ученых , свидетельствуют о сложности явлений кристаллизации. Д.К. В дальнейшем Г. Фундаментальное значение в теории кристаллизации имеет принцип П. Данную точку зрения разделяют многие исследователи 4. ТШ 8. ЮС. Байков, затем подробно ее исследовал В. И. Данилов ,. С 8,. Если краевой угол 0 мал, то. И0С.