Фрактальное моделирование атомной структуры аморфного полупроводника : на примере кремния a-Si
- Автор:
Голоденко, Александр Борисович
- Шифр специальности:
05.13.18
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
200 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Аналитические и численные методы математического моделирования при исследовании внутренних задач свободной конвекции в кондуктивно-ламинарном режиме | Попов, Михаил Иванович | 2015 |
| Зонные системы Делоне как единая модель кристаллических и почти-кристаллических структур | Коваленко, Денис Владимирович | 2004 |
| Аналитическое и численное исследование гидродинамических моделей с многоточечным начально-конечным условием | Конкина Александра Сергеевна | 2020 |